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检测项:高温贮存 检测样品:电子元器件 标准:GJB128A-1997《半导体分立器件试验方法》 方法1031高温寿命
检测项:高低温循环冲击试验 检测样品:电子元器件 标准:GJB128A-1997《半导体分立器件试验方法》方法1031高温寿命
检测项:高低温循环冲击试验 检测样品:电子元器件 标准:GJB360B-2009《电子及电气元件试验方法》方法108高温寿命试验
机构所在地:江苏省连云港市
检测项:高温寿命试验 检测样品:电子产品 标准:电子电工产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温 GB/T2423.2-2008
检测项:高温寿命试验 检测样品:电子产品 标准:低温存储试验 JESD22-A119-2004(R2009)
检测项:恒温恒湿试验 检测样品:电子产品 标准:高温、偏置电压、寿命试验 JESD22-A108D-2010
机构所在地:广东省佛山市