高温灭菌区温度低于温度下限检测实验

脆化温度

简介

脆化温度(Brittletemperature) 聚合物低温性能的一种量度，以具有一定能量的冲锤冲击试样时，当试样开裂概率达到50％时的温度，称为脆化温度，也叫脆折点。脆化温度测试方法：冲击法脆化温度测试仪器：脆化温度测试仪查看详情>>

脆化温度

简介

脆化温度(Brittletemperature)

聚合物低温性能的一种量度，以具有一定能量的冲锤冲击试样时，当试样开裂概率达到50％时的温度，称为脆化温度，也叫脆折点。

脆化温度测试方法：冲击法

脆化温度测试仪器：脆化温度测试仪

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脆化温度

收起百科↑ 最近更新：2017年04月13日

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深圳市射频智能科技有限公司

检测项：高温试验检测样品：电工电子产品标准：GB/T 2423.2-2008 电子电工产品环境试验第2部分：试验方法试验B：高温

检测项：湿热试验检测样品：电工电子产品标准：GB/T 2423.3-2006 电工电子产品环境试验第2部分试验方法试验Cab：恒定湿热试验 GB/T 2423.4-200

检测项：高温试验检测样品：电工电子产品标准：GB/T 2423.2-2008 电子电工产品环境试验第2部分：试验方法试验B：高温

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中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：温度冲击、温度变化试验检测样品：电工电子产品、军用电子设备标准：军用设备环境试验方法温度冲击试验 GJB 150.5-86

检测项：温度冲击、温度变化试验检测样品：电工电子产品、军用电子设备标准：军用设备环境试验方法温度冲击试验 GJB 150.5-86

检测项：高温试验检测样品：电工电子产品、军用电子设备标准：军用设备环境试验方法高温试验 GJB 150.3-86

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总后勤部卫生部药品仪器检验所

检测项：部分参数检测样品：大型蒸汽灭菌器标准：大型蒸汽灭菌器自动控制型 GB 8599-2008

检测项：部分参数检测样品：小型蒸汽灭菌器标准：小型蒸汽灭菌器自动控制型 YY 0646-2008

检测项：部分参数检测样品：大型蒸汽灭菌器标准：大型蒸汽灭菌器自动控制型 GB 8599-2008

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湖南航天管理局计量检测中心

检测项：高温老炼检测样品：标准：

检测项：高温老炼检测样品：标准：

检测项：高温测试检测样品：半导体分立器件筛选标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-97

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福建省电子产品监督检验所（福建省软件评测中心）

检测项：温度下限检测样品：微型计算机标准：微型计算机通用规范 GB/T 9813-2000

检测项：温度检测样品：室内空气质量标准：GB/T 18204.13-2000《公共场所空气温度测定方法》

检测项：I类：温度系数(α)和电容量温度循环漂移/II类：电容量温度特性检测样品：瓷介电容器标准：电子设备用固定电容器第一部分：总规范 GB/T 2693-2001 电子设备用固定电容器第21部分：分规范表面安装用1类多层瓷介固定电容器 GB/T 21041-2007 电子设备用固定电容器第22部分：分规范表面安装用2类多层

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湖北省计量测试技术研究院

检测项：温度下限检测样品：集成电路（IC）卡读写机标准：集成电路（IC）卡读写机通用规范 GB/T 18239-2000

检测项：温度下限检测样品：税控收款机标准：税控收款机第1部分:机器规范 GB 18240.1-2003

检测项：温度下限检测样品：台式喷墨打印机标准：台式喷墨打印机通用规范 GB/T 17974-2000

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公安部第一研究所安全与警用电子产品质量检测中心

检测项：工作温度下限试验检测样品：**集成电路（IC）卡读写机标准：《集成电路（IC）卡读写机通用规范》GB/T18239-2000

检测项：贮存温度下限试验检测样品：**集成电路（IC）卡读写机标准：《集成电路（IC）卡读写机通用规范》GB/T18239-2000

检测项：工作温度上限试验检测样品：**集成电路（IC）卡读写机标准：《集成电路（IC）卡读写机通用规范》GB/T18239-2000

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通标标准技术服务有限公司安吉分公司

检测项：烟密度检测样品：电线电缆标准：在火焰条件下电缆的线路完整性试验第1部分：额定电压0.6/1.0kv及以下、总直径大于20mm电缆在温度不低于830℃冲击火焰下的试验方法 IEC 60331-1:2009

检测项：烟密度检测样品：电线电缆标准：在火焰条件下电缆的线路完整性试验第2部分：额定电压0.6/1.0kv及以下、总直径不大于20mm电缆在温度不低于830℃冲击火焰下的试验方法 IEC 60331-2:2009

检测项：烟密度检测样品：电线电缆标准：在火焰条件下电缆的线路完整性试验第3部分：额定电压0.6/1.0kv及以下电缆在金属外壳内、温度不低于830℃冲击火焰下的试验方法 IEC 60331-3:2009

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昆山嘉华电子有限公司实验室

检测项：温度寿命检测样品：电子及电气零组件标准：电连接器及插座的温度寿命试验程序(有或无电气负荷) EIA-364-17C-2011

检测项：热冲击检测样品：电子及电气零组件标准：电连接器及插座的热冲击（温度循环）试验程序 EIA-364-32F-2011

检测项：瞬断试验检测样品：电子及电气零组件标准：电工电子产品环境试验第2部分:试验方法试验N:温度变化 GB/T 2423.22-2002

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深圳市华测检测技术股份有限公司

检测项：温度寿命检测样品：电连接器和插座标准：电连接器和插座的温度寿命测试（带载或不带载）程序 EIA-364-17B-1999

检测项：高温试验检测样品：电工电子产品标准：电工电子产品环境试验第2部分:试验方法高试验B:温GB/T2423.2-2008

检测项：高温/振动综合试验检测样品：电工电子产品标准：电工电子产品环境试验第2部分：试验方法试验Z/BFc：散热和非散热试验样品的高温/振动(正弦)综合试验 GB/T 2423.36-2005

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