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微电子材料中磷化铟位错检测

  • 样品名称:微电子材料

  • 检测项目:磷化铟位错

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:SJ3245-1989 磷化铟单晶位错的测量方法

  • 服务地点:北京市

  • 适用范围:材料分析

  • 标签: 微电子材料 磷化铟位错 SJ3245-1989 磷化铟单晶位错的测量方法

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