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微电子材料中锗单晶位错检测

  • 样品名称:微电子材料

  • 检测项目:锗单晶位错

  • 认可资质:其它

  • 检测标准:GB/T5252-2006 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法

  • 服务地点:北京市

  • 适用范围:材料分析

  • 标签: 微电子材料 锗单晶位错 GB/T5252-2006 锗单晶位错腐蚀坑密度测量方法

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