国家电子电器产品检测中心
刘工
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样品名称：微电子器件失效分析
检测项目：X射线照相
认可资质：CNAS
检测标准：微电子器件试验方法和程序GJB 548B-2005
服务地点：全国
适用范围：电子电气
标签： 微电子器件失效分析 X射线照相 微电子器件试验方法和程序GJB 548B-2005
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