这是最常用的方法,因溴化钾在中红外区域是透明的且没有吸收,溴化钾是最好的载体。但实际上有些批号的分析纯溴化钾在中红外区域有杂质吸收。为了防止杂质干扰,在购买不到色谱纯溴化钾时,可买些碎的溴化钾单晶或分析纯溴化钾,进行重结晶,并检验其在中红外区域的吸收,方可使用。

溴化钾压片法操作简单,适用于固体粉末样品, 除去常用工具, 还应准备一组小锉刀。固体粉末可直接与溴化钾粉末混合研磨,对于已成型的高分子材料可用小锉刀挫成细粉后研磨,一般1-2mg 样品加100-200mg溴化钾,在玛瑙研钵中研成1-2g的细粉,研磨时,不断用小不锈钢铲,把样品刮至研钵中心,以便研磨得更细,避免颗粒不均匀产生散射,造成基线不平。

固体试样一般研磨5-15min即可压片,油压机压力通常为8000-15000kg/cm2 ,加压时间至少保持1min,得到透明锭片。由于溴化钾极易吸潮, 固应在红外灯下充分干燥后才能压片,否则会在3300cm-1和1640cm-1处出现水的吸收峰。有的压片机有抽气功能,但操作较为复杂。如果高分子材料不是粉末不能直接压片, 则可通过萃取提出增塑剂, 使其失去弹性而变硬,或采用低温研磨,预先制备粉末样品。如橡胶不能热压,常采取这种办法。

鉴定微量样品时,如某些量少的染料样品,无法压片,此时可用一硬纸片剪成试样环大小,中央剪一小洞,将研好的拌有样品的溴化钾粉末放入小洞内压片。这样做有两个优点, 一是节约样品, 特别是对于鉴定分离纯化的微量样品效果好；二是纸片与不锈钢模具直接接触, 纸片纤维较粗, 压片时不易脱落。

有些样品较粘,压片时溴化钾片粘在不锈钢模具上,不易取下,无法进行光谱扫描,此时只须在模具内放入少量已研好的溴化钾,再重新压一次即可。这样制得的锭片稍厚一些,得到的光谱图基线不平,或背景吸收较高,但只须进行技术处理即可得到一张较好的谱图。如某些成色剂样品,就可采用这种制样方法。还有一些乳液样品,破乳后将其涂在载玻片上,吹干后用刮刀刮下研磨即可。

将液体试样在卤化物晶片上涂上一层薄薄的液膜,就可直接在红外光谱仪上进行测定。如果液体试样粘度很小,或溶剂挥发性不大,都可夹在两片卤化物晶片之间测定,挥发性液体可用定量池。最常用的卤化物晶片是氯化钠晶片,夹具都是液体池窗片及池窗夹具,应用范围700-5000cm-1,有的样品需要观察350-700cm-1的吸收峰,可采用溴化钾晶片法。涂片时厚度不易过大,否则会出现齐头峰。如未固化的粘稠树脂及油墨、塑料或橡胶中萃取得到的增塑剂、热固性树脂的裂解液等, 都适宜用此法。水溶液的池窗可用KRS-5或用CaF2。KRS-5在250cm-1至5000cm-1都可使用,但KRS-5有毒,不要用手摸窗片。CaF2较便宜,唯一缺点是其透过率极限为1200cm-1,波数小于1200cm-1的范围不能使用。

晶片大都易潮解,不用时应保存在干燥器内。使用时固定螺丝要对角旋紧,以免应力不均损坏晶片,使用完毕用低沸点溶剂清洗后,放入干燥器保存。涂片法方法很少用于高分子样品,因为绝大多数有机溶剂的吸收都很强,只有少数溶剂吸收较少,如四氯化碳适合于1350-4000cm-1,二硫化碳适合200-1350cm-1,但是只有少数非极性高分子能溶解在这两种溶剂中。为了消除样品溶液中溶剂的吸收谱带,可采用补偿技术,在参比池内放入纯溶剂,参比池内溶剂的量与样品池内溶剂的量相同,但操作较为困难。在傅立叶红外光谱仪上,可采用差谱技术解决溶剂吸收谱带问题。

高分子材料中有一大类是热固树脂,呈交联结构 有的还含有无机填料,如已固化的环氧树脂、酚醛树脂以及橡胶等。热固性树脂不溶于一般溶剂,通常采用小试管裂解的方法,温度一般在500-800摄氏度之间, 裂解液涂在氯化钠晶片上,直接作谱。

有些微量样品混有很微量的无机杂质。如果用硅胶为载体提纯微量样品,红外谱图往往显示硅胶的吸收峰。由于硅胶醚键吸收系数较大,即使很微量的硅胶也会对样品峰造成干扰。解决的方法有两种。一是在烧杯内加入适量溶剂, 样品溶解后, 轻轻把溶液到入另一干净的空烧杯内,将硅胶颗粒剩下,如此反复多次即可将样品与硅胶分离。二是使用溴化钾三角富集法。

具体操作步骤如下: 将溴化钾粉末在研钵中研成很细的细粉,直径大约为1-2微米,在压片机上制成等腰三角形,压力约在10000-15000kg/cm2,等腰三角形块高25mm,底宽8mm,厚2mm,作过滤及富集样品的支撑体。把薄层色谱分离制好的样品放入小瓶内,并加入少量溶剂,而后将压制好的溴化钾三角块用金属片支架固定在瓶的底部,瓶口用不锈钢帽盖住,在帽的中心留一小孔,直径约3mm,使三角的顶点对准小孔。

由于毛细管作用,溶质随溶剂逐步向上移动和浓缩,溴化钾可以滤去薄层板带入的细颗粒硅胶等无机杂质。为了尽量富集完全, 可重复加溶剂2-3 次,就能够使溶质完全浓缩到三角的顶端。最后只须取顶点部分的溴化钾压片,即可得到一张较为理想的红外谱图。据资料介绍,采取溴化钾三角富集法得到样品的受率一般可达50%-80% 左右, 二氧化硅的含量少于10-5。但在实验中要注意, 三角形必须是等腰三角形, 最后选取顶点部分压片时尽量靠近顶点,不要靠下,以免将杂质一同取下,做图时对样品的吸收峰造成干扰。

有些样品涂层很薄,不宜使用上述的方法。此时最好的方法就是用衰减全反射法( ATR) 。该法应用较广泛,使用时不需要进行复杂的分离,不破坏样品,可直接进行红外光谱分析。我们曾多次用此法对喷墨打印材料的表层背层进行分析, 结果较为理想。如胶带、某些表面平滑的纺织品、金属上的油漆及片状橡胶等, 都可用衰减全反射法。主要使用的晶片有KRS-5、ZnSe 等, KRS-5 是铊的化合物,用时要注意安全。粉末样品可用胶带粘在晶片表面上进行测试。另外粉末样品也可加入液体石蜡后研磨。

在用红外光谱法研究某些聚合物结晶度的变化时, 经常使用热压成膜法。熔融热压成膜时, 使用两块具有平滑表面的不锈钢模具, 用云母片或铝箔片作为控制膜厚度的支持物,操作时,先把具有要求厚度的云母片或铝箔片放在模具压模面的周围,中间放样品,一起放在电炉上加热至软化或熔融,再把模具的另一半压在样品上,用坩埚钳小心地夹到油压机上加压,冷却后取下薄膜即可直接测试。