什么是HTOL/ LTOL试验？
HTOL/ LTOL试验是指高/低温操作生命期试验（High/ Low Temperature Operating Life ）的简称
HTOL就是把器件加速老化,主要的加速手段有两种, 电压和温度,通过高温高压使其加速老化,而且电压和温度都有其各自的加速因子,电压加速 Fv= exp(beta*(Vstress-Vop)),温度加速 Ft=exp(Ea/K*(1/Top-1/Tstress)).通过这两个加速因子,可以把stress下的TTF(time to fail)转换到使用条件下的lifetime,即lifetime=TTF*Fv*Ft
HTOL/ LTOL试验目的:
评估器件在超热和超电压情况下一段时间的耐久力。
HTOL/ LTOL测试条件:
125℃，1.1VCC, 动态测试
HTOL/ LTOL试验失效机制：
电子迁移，氧化层破裂，相互扩散，不稳定性，离子玷污等
HTOL/ LTOL试验参考数据：
125℃条件下1000小时测试通过IC可以保证持续使用4年，2000小时测试持续使用8年；150℃ 1000小时测试通过保证使用8年，2000小时保证使用28年。
HTOL/ LTOL试验参考标准:
MIT-STD-883E Method 1005.8
JESD22-A108-A
EIAJED- 4701-D101
