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检测项:集电极截止电流 检测样品:绝缘栅双极晶体管(IGBT) 标准:GB/T29332-2012/IEC60747-9Ed.2.0:20076.3.4 半导体器件 分立器件 第9部分:绝缘栅双极晶体管(IGBT)
检测机构:国家电子电器产品检测中心 更多相关信息>>
检测项:基极--发射极饱和电压VBES 检测样品:晶体三极管 标准:《半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管》 GB/T4587-1995
检测项:晶体管集电极-发射极击穿电压V(BR)CEX 检测样品:晶体管 标准:《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997
检测项:反向漏电流IR 检测样品:晶体管 标准:《半导体分立器件试验方法》 GJB 128A-1997
机构所在地:陕西省咸阳市