低电平检测实验_嘉峪检测网

上海无线电设备研究所环境与检测实验室

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中航光电科技股份有限公司试验检测中心

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检测项：输出低电平电压检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

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检测项：输出高阻态时低电平电流检测样品：半导体集成电路TTL电路标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输出低电平电压检测样品：数字集成电路标准：GJB597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T17574-1998 半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路

检测项：输入低电平电流检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：SJ/T10738-96 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

检测项：输出高阻态时低电平电流检测样品：半导体集成电路运算放大器标准：SJ/T10738-96 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

检测项：输出低电平电压检测样品：时基电路标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理GB/T14030-1992 第2.1、2.2、2.3、2.4、2.6、2.7、2.8条

检测项：低电平输出电流检测样品：时基电路标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理GB/T14030-1992 第2.1、2.2、2.3、2.4、2.6、2.7、2.8条

检测项：输出高阻态时低电平电流检测样品：运算 (电压)放大器标准：半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996第2.1、2.3、2.5、2.6、2.7、2.8、2.11条

贵州天义电器有限责任公司电气检测中心

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检测项：输出低电平VOL 检测样品：半导体集成电路（数字集成电路）标准：1.SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 2.GB/T 17574-1998半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路第IV篇 3.GB/T 16464-1996半导体器件集成电路第

检测项：低电平输入电流IIL 检测样品：半导体集成电路（数字集成电路）标准：1.SJ/T 10741-2000 半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理 2.GB/T 17574-1998半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路第IV篇 3.GB/T 16464-1996半导体器件集成电路第

成都凯天电子股份有限公司实验中心

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