亚旭电子科技（江苏）有限公司零件工程实验室

检测项：电阻值 检测样品：组装印刷电路板 标准：染色渗透法检测针孔 IPC-TM-650 2.1.2A:1976

检测项：染色实验 检测样品：组装印刷电路板 标准：染色渗透法检测针孔 IPC-TM-650 2.1.2A:1976

检测项：电阻值 检测样品：组装印刷电路板 标准：染色渗透法检测针孔 IPC-TM-650 2.1.2A:1976

机构所在地：江苏省苏州市 更多相关信息>>

深圳海油人力资源服务有限公司资产完整性管理技术服务中心

检测项：渗透检测 检测样品：钢结构 标准：锅炉及压力容器检验规范无损检测 ASME.V-2010第七章

检测项：渗透检测 检测样品：钢结构 标准：钢结构焊接规范 AWS D1.1/D1.1M-2010第6.10条

检测项：渗透检测 检测样品：压力容器 标准：承压设备无损检测 第4部分：磁粉检测 JB/T4730.4-2005

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

新疆伊犁河流域开发建设管理局工程质量检测中心

检测项：渗透试验 检测样品：土工合成 材料 标准：《土工合成材料 土工布及土工布有关产品单位面积质量的测定方法》GB/T13762-2009

检测项：渗透试验 检测样品：土工合成 材料 标准：《土工合成材料 土工布及土工布有关产品单位面积质量的测定方法》GB/T13762-2009

机构所在地：新疆维吾尔自治区伊犁市 更多相关信息>>

齐齐哈尔北车铁路车辆技术开发有限公司产品试验研究室

检测项：疲劳 检测样品：铁路货车交叉支撑组成 标准：铁道部运装货车[2006]393号文件 关于印发《铁路货车交叉杆组成技术条件及检验方法》和审查意见的通知之附录A：交叉杆组成疲劳试验方法

机构所在地：黑龙江省齐齐哈尔市 更多相关信息>>

中国人民解放军军事医学科学院野战输血研究所全军血液安全与保障重点实验室

检测项：质控检测 检测样品：人用药物及生物制品的检测 标准：《中国药典》2010年版二部 附录ⅥH附录44pH值测定法；二部 附录ⅨG附录75渗透压摩尔浓度测定法；二部 附录ⅥG附录42黏度测定法；二部 附录ⅪH附录103无菌检查法；三部 附录ⅣC附录23SDS-聚丙烯酰胺凝胶电泳法；三部 附录ⅡA附录12紫外-可

检测项：红细胞功能试验 检测样品：全血、成分血及血液制品；生物药物和医疗器械对全血、成分血及血液制品的影响 标准：《血液实验学》上海科学技术出版社第一版(1997)

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七一六研究所机电设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：输出高阻态时高电平电流 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-96 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

检测项：输出高阻态时低电平电流 检测样品：半导体集成电路运算放大器 标准：SJ/T10738-96 半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

检测项：输出高阻态时高电平电流 检测样品：数字集成电路 标准：GJB597A-1996 《半导体集成电路总规范》 GB/T17574-1998 《半导体器件集成电路 第2部分：数字集成电路》

机构所在地：江苏省连云港市 更多相关信息>>

上海仪器仪表自控系统检验测试所

检测项：全部参数 检测样品：气动调节阀 标准：气动调节阀GB/T 4213-2008 工业阀门压力试验GB/T 13927-2008 工业过程控制系统用气动长行程执行机构JB/T 5223-91 阀门的检验与试验JB/T 9092-1999 通用阀门流量系数和流阻系数的试验方法JB/T 5296-

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第723研究所电工电子设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：输出高阻态时高电平电流 检测样品：CMOS集成电路 标准：《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路》GB/T17574-1998 《半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理》SJ/T10741-2000

检测项：输出高阻态时低电平电流 检测样品：CMOS集成电路 标准：《半导体器件集成电路第2部分：数字集成电路》GB/T17574-1998 《半导体集成电路 CMOS电路测试方法的基本原理》SJ/T10741-2000

检测项：输出高阻态时高电平电流 检测样品：电压比较器、运算放大器 标准：《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》GB/T6798-1996 《半导体器件 集成电路第3部分：模拟集成电路》GB/T17940-2000

机构所在地：江苏省扬州市 更多相关信息>>

中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：输出高阻态时高电平电流IOZH 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

检测项：输出高阻态时低电平电流IOZL 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：输出高阻态时低电平电流 检测样品：运算 (电压)放大器 标准：半导体集成电路 运算(电压)放大器 测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996第2.1、2.3、2.5、2.6、2.7、2.8、2.11条

检测项：输出高阻态时高电平电流 检测样品：CMOS 集成电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的 基本原理 SJ/T10741－2000 第5.1、5.2、5.3、5.7、5.8、5.9、5.10、5.11、5.12、5.13、5.14、5.15、5.16条

检测项：输出高阻态时低电平电流 检测样品：CMOS 集成电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的 基本原理 SJ/T10741－2000 第5.1、5.2、5.3、5.7、5.8、5.9、5.10、5.11、5.12、5.13、5.14、5.15、5.16条

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>