广东省电子电器产品监督检验所

检测项：稳态湿热 检测样品：整流二极管 标准：半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管 GB/T 4023-1997

检测项：高温贮存 检测样品：整流二极管 标准：半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管 GB/T 4023-1997

检测项：第一位特征数字所表示的防止固体异物进入试验 检测样品：双极型晶体管 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 GB/T 4587-1994

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

上海市轴承技术研究所检测实验室

检测项：全项目 检测样品：轴承座 标准：滚动轴承 剖分立式轴承座 技术条件 JB/T 8874-2010

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第五十八研究所检测中心

检测项：温度冲击 （气体介质） 检测样品：电子元器件 标准：半导体分立器件试验方法　GJB128A-1997 方法1051

检测项：盐雾 （腐蚀） 检测样品：电子元器件 标准：半导体分立器件试验方法　GJB128A-1997 方法2006

检测项：高温试验 检测样品：电子元器件 标准：半导体分立器件试验方法　GJB128A-1997 方法2056、2057

机构所在地：江苏省无锡市 更多相关信息>>

中科华核电技术研究院有限公司核安全电气设备鉴定检测中心

检测项：功率 老炼 检测样品：电子元器件 标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

检测项：功率 老炼 检测样品：电子元器件 标准：(2)半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

检测项：反向电流 检测样品：光耦合器 标准：（1）半导体分立器件和集成电路 第5－3部分：光电子器件测试方法 GB/T 15651.3-2003

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

华东光电集成器件研究所计量测试中心

检测项：盐雾（腐蚀） 检测样品：电子元器件 标准：半导体分立器件试验方法　 GJB128A-1997方法1056

检测项：粒子碰撞噪声检测 检测样品：电子元器件 标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997 方法1001

检测项：键合强度 检测样品：电子元器件 标准：半导体分立器件试验方法　 GJB128A-1997方法2052

机构所在地：安徽省蚌埠市 更多相关信息>>

西南计算机有限责任公司检测计量与软件测评中心

检测项：低温试验 检测样品：军用及民用机械、电子类产品 标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1031、1032

检测项：温度冲击试验 检测样品：军用及民用机械、电子类产品 标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1051

检测项：自由跌落试验 检测样品：军用及民用机械、电子类产品 标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1038、1039、 1040、1042

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

中国空空导弹研究院元器件检测中心

检测项：基准输出电压VRO 检测样品：晶体三极管 标准：GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管

检测项：输入偏置电流IIB 检测样品：晶体三极管 标准：GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管

检测项：输入失调电流IIO 检测样品：晶体三极管 标准：GB/T 4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管

机构所在地：河南省洛阳市 更多相关信息>>

上海无线电设备研究所环境与检测实验室

检测项：电压调整率 检测样品：晶体 三极管 标准：《半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管》 GB/T 4587-1994

检测项：电流调整率 检测样品：晶体 三极管 标准：《半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管》 GB/T 4587-1994

检测项：纹波抑制比 检测样品：晶体 三极管 标准：《半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管》 GB/T 4587-1994

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十九研究所检测实验室

检测项：湿热试验 检测样品：电子元器件 标准：半导体分立元器件试验方法 GJB 128A-1997 方法 2016

检测项：低气压 检测样品：电子元器件 标准：半导体分立元器件试验方法 GJB128A-1997 方法 1021

检测项：湿热试验 检测样品：电子元器件 标准：半导体分立元器件试验方法 GJB 128A-1997 方法 2016

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

西安东风仪表厂可靠性试验检测中心

检测项：正向压降 检测样品：半导体 二极管 标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997

检测项：共发射极正向电流传输比 检测样品：半导体 晶体三极管 标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-97

检测项：集电极—基极击穿电压 检测样品：半导体 晶体三极管 标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-97

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>