刺钢丝网隔离栅检测实验

足部隔离用品

简介

足部隔离用品

简介

足部隔离用品产品描述：采用适宜材料制成，有足够的强度和阻隔性能。非无菌提供。

足部隔离用品预期用途：医务人员在医疗机构中使用，防止接触到具有潜在感染性的患者血液、体液、分泌物等，起阻隔、防护作用。

足部隔离用品品名举例：医用隔离鞋、医用隔离鞋套

足部隔离用品管理类别：Ⅰ

足部隔离用品相关标准：
1、YY/T 0506.4-2016 病人、医护人员和器械用手术单、手术衣和洁净服第4部分：干态落絮试验方法
2、YY/T 0506.8-2019 病人、医护人员和器械用手术单、手术衣和洁净服第8部分：产品专用要求
3、YY/T 0616.7-2020 一次性使用医用手套第7部分：抗原性蛋白质含量免疫学测定方法

足部隔离用品相关检测项目：
1 . 结构与规格《一次性使用医用防护鞋套： YY/T 1633-2019》
2 . 外观《一次性使用医用防护鞋套： YY/T 1633-2019》
3 . 抗渗水性《一次性使用医用防护鞋套： YY/T 1633-2019》
4 . 抗合成血液穿透性《一次性使用医用防护鞋套： YY/T 1633-2019》
5 . 表面抗湿性《一次性使用医用防护鞋套： YY/T 1633-2019》
6 . 断裂强力《一次性使用医用防护鞋套： YY/T 1633-2019》
7 . 断裂伸长率《一次性使用医用防护鞋套： YY/T 1633-2019》
8 . 过滤效率《一次性使用医用防护鞋套： YY/T 1633-2019》
9 . 微生物指标《一次性使用医用防护鞋套： YY/T 1633-2019》
10 . 环氧乙烷残留量《一次性使用医用防护鞋套： YY/T 1633-2019》

收起百科↑ 最近更新：2023年04月17日

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中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：零栅压时的漏极电流IDDS 检测样品：场效应管标准：GB/T4586-1994 《半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管》

检测项：栅--源击穿电压BVGS 检测样品：晶体二极管标准：GB4589.1-1989《半导体器件分立器件和集成电路总规范》

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贵州航天计量测试技术研究所

检测项：老炼和寿命试验（功率场效应晶体管和绝缘栅双极晶体管检测样品：半导体分立器件标准：《半导体分立器件试验方法》GJB128A-1997

检测项：栅-源截止电压VGSoff 检测样品：晶体振荡器标准：《晶体振荡器总规范》GJB 1648-1993

检测项：栅-源阈值电压VGS（th）检测样品：晶体振荡器标准：《晶体振荡器总规范》GJB 1648-1993

机构所在地：贵州省贵阳市更多相关信息>>

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北京振兴计量测试研究所

检测项：栅-源截止电压检测样品：晶体管标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GB/T4586-1994

检测项：栅源短路时的漏极电流检测样品：晶体管标准：半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管 GB/T4587-1994

检测项：栅-源阈值电压检测样品：晶体管标准：半导体分立器件和集成电路第7部分：双极型晶体管 GB/T4587-1994

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上海精密计量测试研究所

检测项：栅-源阈值电压VGS(th) 检测样品：半导体集成电路时基电路标准：GB/T14030-1992 半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理

检测项：栅-源阈值电压VGS(th) 检测样品：场效应晶体管标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法

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西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：栅源阈值电压检测样品：晶闸管标准：半导体器件第6部分晶闸管 GB/T 15291-1994

检测项：正向栅源漏电流检测样品：场效应晶体管标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

检测项：反向栅源漏电流检测样品：场效应晶体管标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

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虎彩印艺股份有限公司检测中心

检测项：耐折度检测样品：纸张性能标准：纸和纸板耐折度的测定 GB/T 457-2008

检测项：挺度检测样品：纸张性能标准：纸和纸板弯曲挺度的测定 GB/T 22364-2008

检测项：纵横向检测样品：纸张性能标准：纸和纸板试样的采取及试样纵横向、正反面的测定 GB/T 450-2008

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上海华岭集成电路技术股份有限公司检测中心

检测项：栅源漏电流检测样品：电子元器件标准：半导体器件测试方法 MIL-STD-750F:2012 方法3411.1

检测项：栅源击穿电压检测样品：VDMOS管标准：半导体器件测试方法 MIL-STD-750F:2012 方法3401.1

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西南计算机有限责任公司检测计量与软件测评中心

检测项：零栅压漏极电流检测样品：晶闸管标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3407

检测项：正向栅源漏电流检测样品：晶闸管标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3407

检测项：反向栅源漏电流检测样品：晶闸管标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法3407

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中国空空导弹研究院元器件检测中心

检测项：零栅压时的漏极电流IDDS 检测样品：场效应管标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管

检测项：栅--源击穿电压BVGS 检测样品：场效应管标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管

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杭州中检电气研究院有限公司

检测项：部分项目检测样品：低压开关、隔离器、隔离开关以及熔断器组合电器标准：GB14048.3-2008 IEC60947-3:2005,IDT 低压开关设备和控制设备第3部分：开关、隔离器、隔离开关以及熔断器组合电器EN60947-3:1999+A2:2005 低压开关设备和控制设备第3部分：开关、隔离器、隔离开关以及熔断器

检测项：验证指示隔离电器主触头位置机构的有效性检测样品：低压开关设备和控制设备标准：GB 14048.1-2006 IEC60947-1:2001,MOD 低压开关设备和控制设备第1部分：总则 EN 60947-1:2004 低压开关设备和控制设备第1部分：总则

检测项：附录N 具有保护性隔离的电器的性能要求和试验方法检测样品：低压断路器标准：GB14048.2-2008 IEC60947-2:2006,IDT 低压开关设备和控制设备第2部分：断路器 EN 60947-2:2006 低压开关设备和控制设备第2部分：断路器

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