合兴集团有限公司实验中心

检测项：机械寿命 检测样品：机电元件 标准：电子设备用机电元件基本试验规程及测量方法 第5部分：撞击试验（自由元件）、静负荷试验（固定元件）、寿命试验和过负荷试验 GB/T 5095.5-1997

机构所在地：浙江省乐清市 更多相关信息>>

中煤科工集团常州自动化研究院矿用通信监控设备实验室

检测项：部分项目** 检测样品：煤矿用隔爆型控制按钮 标准：MT/T624-2007煤矿用隔爆型控制按钮

检测项：部分项目** 检测样品：矿用电机车司机控制器 标准：MT/T1050-2007矿用电机车司机控制器

检测项：部分项目** 检测样品：煤矿用隔爆型控制按钮 标准：MT/T624-2007煤矿用隔爆型控制按钮

机构所在地：江苏省常州市 更多相关信息>>

北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司中心实验室

检测项：寿命试验 检测样品：电气电子产品 标准：《高温存储寿命》JESD22-A103C:2004

检测项：盐雾 （腐蚀） 检测样品：电气电子 产品 标准：《寿命试验》JESD22-A108C:2005

检测项：湿热试验 检测样品：电气电子产品 标准：《温度湿度偏置循环寿命测试》JESD22-A100C:2007

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

西安芯派电子科技有限公司测试应用中心

检测项：间歇寿命试验 检测样品：功率金属氧化物场效应管 标准：温度，反偏和操作寿命试验 JESD22-A108D:2010

检测项：间歇寿命试验 检测样品：功率金属氧化物场效应管 标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1042

检测项：稳态寿命试验 检测样品：功率金属氧化物场效应管 标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1042

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：稳态寿命 检测样品：电子元器件及设备 寿命及可靠性试验 标准：1、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 2、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 3、GJB 899A-2009 可靠性鉴定和验收试验 4、GJB 360B-2009 电子及电气元件试验方法

检测项：稳态寿命 检测样品：电子元器件及设备 寿命及可靠性试验 标准：1、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 2、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 3、GJB 899A-2009 可靠性鉴定和验收试验

检测项：间歇寿命 检测样品：电子元器件及设备 机械性能试验 标准：1、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法

机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>

湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：高温贮存 检测样品：电子元器件试验 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法1008.1稳定性烘焙；半导体分立器件试验方法 GJB 128A-97方法1031高温寿命 电子及电气元件试验方法 GJB 360B-2009 方法108高温寿命试验；

检测项：高温寿命（非工作） 检测样品：晶体管 标准：半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997

机构所在地：湖北省孝感市 更多相关信息>>

广东省潮州市质量计量监督检测所

检测项：部分参数 检测样品：液体加热器 标准：家用和类似用途电器的安全 第1部分：通用要求 GB 4706.1-2005

检测项：部分参数 检测样品：液体加热器 标准：家用和类似用途电器的安全 第1部分：通用要求 GB4706.1-2005 家用和类似用途电器的安全 液体加热器的特殊要求 GB4706.19-2008

检测项：部分参数 检测样品：液体加热器 标准：家用和类似用途电器的安全 液体加热器的特殊要求 GB 4706.19-2008

机构所在地：广东省潮州市 更多相关信息>>

连展科技（深圳）有限公司检测中心

检测项：温度寿命 检测样品：电子 连接器 标准：电子连接器，插座有无负载情况下的温度寿命试验方法EIA-364-17C-2011

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

上海泰捷通信技术有限公司测试中心

检测项：移动通信手持机与附件的接口的寿命 检测样品：移动通信手持机 标准：移动通信手持机可靠性技术要求和测试方法 YD/T 1539-2006

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

唐山出入境检验检疫局陶瓷实验室

检测项：慢落功能寿命试验 检测样品：坐便器坐圈和盖 标准：坐便器塑料坐圈和盖IAPMO/ANSI Z124.5-2006

检测项：慢落功能寿命试验 检测样品：坐便器坐圈和盖 标准：坐便器坐圈和盖JC/T764-2008

机构所在地：河北省唐山市 更多相关信息>>