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器械夹产品描述:通常由一片折弯而成。头端带线槽或无槽。一般采用不锈钢材料制成。非无菌提供。 器械夹预期用途:用于显微手术时夹持牵引线。 器械夹品名举例:显微牵线夹 器械夹管理类别:Ⅰ 器械夹相关指导原则: 1、腹腔镜手术器械技术审查指导原则 器械夹相关标准: 1 . GB/T 16886.1-2011 《医疗器...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年02月16日
检测项:输出低电平电流IOL 检测样品:微电子器件 标准:微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:半导体 集成电路TTL电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:半导体 集成电路TTL电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
机构所在地:河南省郑州市 更多相关信息>>
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:DC/DC电源模块 标准:混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:DC/DC电源模块 标准:混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
检测项:输入阈值电平电压VT(I) 检测样品:DC/DC电源模块 标准:混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:视频输出电平 检测样品:VCD视盘机 标准:VCD视盘机通用规范 SJ/T 10730-1997
检测项:视频通道输出电平 检测样品:家庭影院用环绕声放大器 标准:家庭影院用环绕声放大器通用规范 SJ/T 11217-2000
检测项:连续激光输出功率 检测样品:氦氖激光器 标准:氦氖激光器参数测试方法 GB 7257-1987 激光设备和设施的电气安全 GB 10320-2011
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:逻辑输出电压电平 检测样品:二极管 标准:GB/T6571-1995 半导体器件分立器件第3部分:信号(包括开关)和调整二极管
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:半导体集成电路采样/保持放大器 标准:GB/T14115-1993 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:半导体集成电路MOS随机存储器 标准:SJ/T10739-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:全部参数 检测样品:载波机 标准:DL/T 790.31-2001采用配电线载波的配电自动化 第3部分:配电线载波信号传输要求 第1篇:频带和输出电平
检测项:充电输出要求 检测样品:电动汽车交流充电设备 标准:Q/GDW 235-2009 电动汽车非车载充电机通信协议
机构所在地:河南省许昌市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:电压调整器 标准:GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》
检测项:输出高电平阈值电压VOHT 检测样品:电压调整器 标准:GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:电压调整器 标准:GB/T 4377-1996《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》
检测项:系统输出电平 检测样品:建筑智能化系统 标准:智能建筑工程质量验收规范 GB 50339-2003
检测项:等电平远端串音 检测样品:基于以太网技术的局域网系统 标准:基于以太网技术的局域网系统验收测评规范 GB/T 21671-2008
检测项:等电平远端串音功率和 检测样品:基于以太网技术的局域网系统 标准:基于以太网技术的局域网系统验收测评规范 GB/T 21671-2008
机构所在地:山东省济南市 更多相关信息>>
检测项:额定输出电平 检测样品:铁路列车无线通信系统中继器 标准:铁路无线列调通信系统入网技术检验规程(试行) 条款:五(四)
检测项:剩余输出电平 检测样品:铁路列车无线通信系统电台 标准:TB/T3052-2002 列车无线调度通信系统制式及主要技术条件 运基通信【2000】208号文 铁路无线列调通信系统入网技术检验规程(试行)条款五(一)、(二) 运基通信【2003】349号文 关于发布《800MHz列尾和列车安全预警系统主要技术条件
检测项:静噪门限电平 检测样品:铁路列车无线通信系统中继器 标准:TB/T3052-2002 列车无线调度通信系统制式及主要技术条件 运基通信【2000】208号文
检测项:输出高电平电压 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输出低电平电压 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输出高阻态时高电平电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:输出低电平电压 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G 方法3006.1
检测项:输出高电平电流 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3009.1
检测项:输出高电平电压 检测样品:电子元器件 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.7条
机构所在地:江苏省无锡市 更多相关信息>>