中国船舶重工集团公司第七一六研究所机电设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：开环电压增益 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理

检测项：开环电压增益 检测样品：晶体三极管 标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管

检测项：开环电压增益 检测样品：半导体集成电路电压比较器 标准：GB/T6798-1996 《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》

机构所在地：江苏省连云港市 更多相关信息>>

上海市计量测试技术研究院（华东国家计量测试中心/中国上海测试中心）

检测项：部分项目 检测样品：**船用全球定位系统（GPS）接收设备 标准：船用全球定位系统（GPS）接收机通用技术条件 GB/T 15527-1995

检测项：*晶粒度 检测样品：金属、合金及固体材料 标准：金属平均晶粒度测定方法 GB/T 6394-2002

检测项：部分项目 检测样品：LED 标准：LED测量 CIE 127：2007

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：开环电压增益 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T4377-1996 《半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理》 GB/T 14028-1992 《半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理》

检测项：晶粒度 检测样品：金属及金属制品 标准：GB/T 6394-2002《金属平均晶粒度测定方法》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

四川省电子产品监督检验所/中国赛宝（四川）实验室/四川省软件和信息系统工程测评中心

检测项：增益 检测样品：声频功率放大器 标准：声频功率放大器通用技术条件 SJ/T10406-1993

检测项：多通道放大器中通道间的增益差和相位差 检测样品：声频功率放大器 标准：声频功率放大器通用技术条件 SJ/T10406-1993

检测项：屏幕平均亮度 检测样品：彩色电视广播接收机 标准：平板电视能效限定值及能效等级 GB24850-2010 GB24850-2013

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第五十四研究所通信导航设备实验室（石家庄通信测控技术研究所通信导航设备实验室）

检测项：低噪声放大器增益 检测样品：微波通信设备 标准：数字微波接力通信设备测量方法 GB/T12640-1990

检测项：自动增益控制特性 检测样品：中短波通信设备 标准：短波单边带接收机电性能测量方法 GB/T6934-1995

检测项：射频增益控制 检测样品：中短波通信设备 标准：短波单边带接收机电性能测量方法 GB/T6934-1995

机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：V/F增益误差 检测样品：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器 标准：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理　GB/T14114-1993

检测项：V/F增益误差温度系数 检测样品：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器 标准：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理　GB/T14114-1993

检测项：F/V增益误差 检测样品：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器 标准：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理　GB/T14114-1993

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七二二研究所计量检测中心

检测项：开环电压增益AVD 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996《半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理》

检测项：增益 检测样品：天线 标准：QJ1729A-1996《航天天线测试方法》 CB1338－1998 《舰船通信天线技术要求》 GB/T 9410-2008 《移动通信天线通用技术规范》 CB1189－2008 《船用超短波通信天线电性能基本技术要求和测量方法》

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

山东省计算中心

检测项：传声增益 检测样品：软件产品 标准：软件工程 软件产品质量要求与评价（SQuaRE) 商业现货（COTS)软件产品的质量要求和测试细则 GB/T 25000.51-2010

机构所在地：山东省济南市 更多相关信息>>

中科华核电技术研究院有限公司核安全电气设备鉴定检测中心

检测项：开环电压增益 检测样品：电工电子产品/核安全级电气设备 标准：电工电子产品环境试验 第2部分： 试验方法 试验A：低温 GB/T 2423.1-2008

检测项：开环电压增益 检测样品：电工电子产品/核安全级电气设备 标准：(1)电工电子产品环境试验 第2部分： 试验方法 试验A：低温 GB/T 2423.1-2008

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：增益误差 检测样品：光电耦合器 标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 15651-1995 半导体器件分立器件 第5部分 光电子器件

检测项：增益误差 检测样品：光电耦合器 标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 15651-1995 半导体器件分立器件 第5部分 光电子器件

检测项：开环电压增益 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

机构所在地：上海市 更多相关信息>>