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检测项:恒定加速度 检测样品:电子元器件试验 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005 方法2001.1条件A、B、C、D、E
检测项:恒定加速度 检测样品:晶体管 标准:半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997
机构所在地:湖北省孝感市
检测项:冲击试验 检测样品:电子电工产品 标准:GJB150.18A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第18部分:冲击试验
检测项:冲击试验 检测样品:电子电工产品 标准:GJB150.18-1986 军用设备环境试验方法 冲击试验
机构所在地:山东省青岛市
检测项:恒定加速试验 检测样品:电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准:半导体分立器件试验方法 方法2006 恒定加速度 GJB128A-1997
检测项:耐腐蚀试验 检测样品:电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准:电子及电气元件试验方法 方法212稳态加速度试验 GJB360B-2009
检测项:耐腐蚀试验 检测样品:电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准:微电子器件试验方法 方法2001.1恒定加速度GJB548B-2005
机构所在地:北京市
检测项:微区元素 检测样品: 标准:热分析方法通则 JY/T 014—1996
检测项:微区元素 检测样品: 标准:热分析方法通则 JY/T 014—1996
检测项:微区形貌 检测样品: 标准:分析型扫描电子显微镜方法通则JY/T 010-1996
机构所在地:江苏省仪征市