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检测项:标称最大输出功率 检测样品:GSM移动通信直放机 标准:YD/T 1337-2005《900/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法》 信部无[1999]62号《关于加强直放站管理的通知》
检测项:EGPRS模式下的最大输出功率 检测样品:GSM数字蜂窝通信系统移动台 标准:YD/T1214-2006 《900MHz/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信网通用分组无线业务(GPRS)设备技术要求:移动台》YD/T1215-2006 《900MHz/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信网通用分组无线业务(GPRS)设备测
检测项:最大输出功率 检测样品:CDMA数字蜂窝移动台 标准:YDC 015-2006《800MHz CDMA1X数字蜂窝移动通信网设备技术要求:移动台》YDC 023-2006《800MHz CDMA1X数字蜂窝移动通信网设备测试方法:移动台 第一部分 基本无线指标、功能和性能》YD/T 1394-2009《GSM
机构所在地:广东省广州市 更多相关信息>>
检测项:最大输出电流 检测样品:移动通信终端电源适配器 标准:移动通信终端电源适配器及充电/数据接口技术要求和测试方法 YD/T 1591-2009
检测项:交换机输入端容许输入信号抖动和漂移 检测样品:数字程控调度机 标准:数字程控调度机技术要求和测试方法 YD/T 954-1998
检测项:集成式接收机测试 检测样品:光波分复用(WDM)设备 标准:光波分复用(WDM)系统测试方法 YD/T 1159-2001
检测项:部分参数 检测样品:声频功率放大器 标准:声频功率放大器通用技术条件SJ/T 10406-1993
检测项:全部参数 检测样品:声音广播接收机 标准:声音广播接收机基本参数 GB/T 9374-1988
检测项:全部参数 检测样品:声音广播接收机 标准:声音广播接收机基本参数 GB/T 9374-2012
机构所在地:广东省江门市 更多相关信息>>
检测项:最大输出电流和功率 检测样品:固定电阻器 标准:GB/T5729-2003电子设备用固定电阻器 第一部分:总规范
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:最大输出 电压 检测样品:电工电子产品(可靠性) 标准:信息终端设备声压输出限值要求和测量方法 YD/T 1884-2009
检测项:最大输出 电压 检测样品:电工电子产品(可靠性) 标准:音响系统设备:与便携音响设备相应的耳机和头戴式耳机.最大声音压力水平测量方法和限制考虑.第2部分:耳机或设备单独提供 EN50332-2:2003
检测项:接收机性能测试(TIS) 检测样品:通信设备(移动台空中性能测试0TA) 标准:2GHz WCDMA 移动台空间射频辐射功率和接收机性能测量方法 YD/T 1978-2009
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:输入高电平 检测样品:集成电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM
检测项:极限高电平输入电流 检测样品:集成电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:输入低电平电压 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输入高电平电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输入低电平电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输入高电平电压VIH 检测样品:数字集成电路 标准:SJ/T10741-2000 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》
检测项:输入低电平电压VIL 检测样品:数字集成电路 标准:SJ/T10741-2000 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》
检测项:输入高电平电流IIH 检测样品:模拟集成电路 标准:GB/T6798-1996《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》 GB3442-1986 《半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理》
检测项:输入电平适应范围 检测样品:微波器件 标准:GJB2650-1996微波元器件性能测试方法
检测项:输入高电平电流IIH 检测样品:半导体 集成电路TTL电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项:输入低电平电流IIL 检测样品:半导体 集成电路TTL电路 标准:半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
机构所在地:河南省郑州市 更多相关信息>>
检测项:输入阈值电平电压VT(I) 检测样品:DC/DC电源模块 标准:混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997
检测项:输入电流 检测样品: 标准:
检测项:输出低电平电压VOL 检测样品:DC/DC电源模块 标准:混合集成电路DC/DC变换器测试方法 SJ 20646-1997