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一次性使用无菌宫颈刮板产品描述:由木片、竹片等材料制成的片状器械,无菌提供。 一次性使用无菌宫颈刮板预期用途:用于获取宫颈表面的样本。 一次性使用无菌宫颈刮板品名举例:一次性使用无菌宫颈刮板 一次性使用无菌宫颈刮板管理类别:Ⅱ 刮宫片产品描述:由木片、竹片等材料制成的片状器械,非无菌提供。 刮宫片预期用途:暂无内容 ...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年06月26日
检测项:导通电阻 检测样品:接地导通 电阻测试仪 标准:GB/T 28030-2011 《接地导通电阻测试仪测量方法》
检测项:负载效应 检测样品:接地导通 电阻测试仪 标准:GB/T 28030-2011 《接地导通电阻测试仪测量方法》
检测项:直流电压基本误差 检测样品:模拟直流 电压表 标准:GB/T 7676.9-1998 直接作用模拟指示电测量仪表及其附件 第9部分 推荐的试验方法
机构所在地:四川省绵阳市 更多相关信息>>
检测项:导通电阻可靠性测试 检测样品: 标准:导通电阻测试 IPC-9701A-February 2006
检测项:导通电阻可靠性测试 检测样品:电工电子产品 标准:导通电阻测试 IPC-9701A-February 2006
检测项:振动 检测样品:车辆电气和电子设备 标准:电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Fc和导则:振动 (正弦) GB/T 2423.10:2008 IEC 60068-2-6:2007
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:导通电阻路差 △Ron 检测样品:电压基准 标准:SJ50597/57-2003 半导体集成电路JW584 /JW584A可编程电压基准详细规范 SJ50597/54-2002 半导体集成电路JW431精密可调电压基准源详细规范
检测项:导通电阻Ron 检测样品:模拟开关 标准:GB/T 14028-1992 半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理
检测项:导通电阻Ron 检测样品:模拟/混合集成电路 标准:GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199
检测项:导通态漏电流IDS(on ) 检测样品:模拟/混合集成电路 标准:GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199
检测项:小信号短路正向跨导gfs 检测样品:场效应管 标准:GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管
机构所在地:河南省洛阳市 更多相关信息>>
检测项:密封性试验 检测样品:电力电容器 标准:《标称电压1kV及以下交流电力系统用非自愈式并联电容器 第1部分:总则 性能、试验和定额 安全要求安装和运行导则》GB/T 17886.1-1999 《标称电压1 000V以上交流电力系统用并联电容器 第一部分:总则》GB/T11024.1-2010 《
检测项:温升试验 检测样品:电力电容器 标准:《标称电压1kV及以下交流电力系统用非自愈式并联电容器 第1部分:总则 性能、试验和定额 安全要求安装和运行导则》GB/T 17886.1-1999 《标称电压1 000V以上交流电力系统用并联电容器 第一部分:总则》GB/T11024.1-2010 《
检测项:冲击电压试验 检测样品:电抗器 标准:《高压并联电容器用串联电抗器订货技术条件》DL 462-1992 《6kV~35kV级干式并联电抗器技术参数和要求》JB/T 10775-2007 《串联电抗器试验导则》JB/T 7632-2006 JB/T 5346-1998《串联电抗器》JB/T 53
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:部分项目 检测样品:标称电压1kV及以下交流电力系统用非自愈式并联电容器 标准:GB/T 12747.1-2004 标称电压1kV及以下交流电力系统用自愈式并联电容器 第1部分:总则——性能、试验和定额——安全要求——安装和运行导则 IEC 60831-1:2002
检测项:部分项目 检测样品:标称电压1kV及以下交流电力系统用非自愈式并联电容器 标准:GB/T 17886.1-1999 标称电压1kV及以下交流电力系统用非自愈式并联电容器第1部分:总则——性能、试验和定额——安全要求——安装和运行导则 IEC 60931-1:1996
检测项:部分项目 检测样品:标称电压1kV及以下交流电力系统用非自愈式并联电容器 标准:标称电压1kV及以下交流电力系统用自愈式并联电容器 第1部分:总则——性能、试验和定额——安全要求——安装和运行导则 GB/T 12747.1-2004 IEC 60831-1:2002
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:导通电阻 检测样品:模拟开关 标准:半导体集成电路模拟开关测试方法 的基本原理 GB/T 14028-1992
检测项:导通态漏电流 检测样品:电压比较器 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996
检测项:跨导 检测样品:晶闸管 标准:半导体器件 第6部分晶闸管 GB/T 15291-1994
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:导通电阻路差 检测样品:半导体集成电路模拟开关 标准:半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T 14028-1992
检测项:静态导通电阻 检测样品:CMOS集成电路 标准:集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006
检测项:静态导通电阻 检测样品:RF器件 标准:集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理 SJ20961-2006
检测项:全部项目 检测样品:高压绝缘子 标准:《标称电压高于1000V的交流架空线路绝缘子使用导则—第一部分:交流系统用瓷或玻璃绝缘子》DL/T1000.1-2006
检测项:部分项目 检测样品:高压绝缘子 标准:《标称电压高于1000V系统用户内和户外支柱绝缘子第2部分:尺寸与特性》GB/T8287.2-2008
机构所在地:甘肃省天水市 更多相关信息>>
检测项:导通电阻 检测样品:模拟集成电路 标准:GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压
检测项:导通电阻路差 检测样品:模拟集成电路 标准:GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压