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检测项:稳定性烘焙 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005
检测项:稳定性烘焙 检测样品:半导体集成 电路 (TTL) 标准:微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005
机构所在地:北京市
检测项:稳定性烘焙 检测样品:微电子器件 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB 548B-2005
检测项:品质因数 检测样品:石英晶体 谐振器 标准:石英晶体元件总规范 GJB 2138-1994
机构所在地:湖北省武汉市
检测项:稳定性烘焙 检测样品:钽电容器 标准:微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005
检测项:稳定性烘焙 检测样品:电子设备、产品 标准:微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005
检测项:稳定性烘焙 检测样品:钽电容器 标准:微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005
机构所在地:湖北省武汉市
检测项:稳定性烘焙 检测样品:微电子器件 标准:微电子器件 试验方法和程序GJB548B-2005
检测项:稳定性烘焙 检测样品:微电子器件 标准:微电子器件 试验方法和程序GJB548B-2005
机构所在地:辽宁省沈阳市