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检测项：发射机载波输出电平 检测样品：无线通讯设备 标准：电磁兼容性和无线频谱(ERM):短距离设备(SRD)工作在9kHz到25kHZ频率范围内的无线设备和工作在9kHz到30MHz频率范围内的感应回路系统;第1部分:技术特性和测试方法 ETSI EN 300 330-1 V1.7.1 (2010-
检测项：输出功率 检测样品：无线通讯设备 标准：行动通讯设备 FCC Part 22:2011 FCC Part 24:201
机构所在地：江苏省苏州市 更多相关信息>>
检测项：网络管理功能 检测样品：基于SDH的多业务传送节点设备（MSTP） 标准：YD/T 1188-2008接入网技术要求——不对称数字用户线（ADSL/ADSL2+）用户端设备
检测项：网管功能验证 检测样品：VDSL设备 标准：YD/T1347-2005接入网技术要求—不对称数字用户线（ADSL）用户端设备远程管理
检测项：ADSL传输性能测试 检测样品：ADSL2/ADSL2Plus设备 标准：YD/T 1188-2008接入网技术要求——不对称数字用户线（ADSL/ADSL2+）用户端设备
机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项：输出低电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM
检测项：输出高电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM
检测项：低到高电平输出的传输延迟时间 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM
检测项：自动电平控制（ALC） 检测样品： 标准：
检测项：输入/输出电压驻波比 检测样品： 标准：
检测项：标称最大输出功率 检测样品：CDMA直放站 标准：800MHz/2GHz CDMA数字蜂窝移动通信网 模拟直放站技术要求和测试方法 YD/T 1596-2011
机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>
检测项：辐射杂散（用户设备） 检测样品：IMT-2000-CDMA基站，中继器及用户产品 (射频特性) 标准：根据R&TTE指令3.2章节要求的IMT-2000 3G基站,中继器及用户端产品的电磁兼容和无线电频谱问题; 第一部分 介绍和一般要求 ETSI EN 301 908-1 V6.2.1 (2013-10) 第二部分 CDMA 直接扩频(UTRA FDD)用
检测项：辐射杂散（基站类设备） 检测样品：IMT-2000-CDMA基站，中继器及用户产品 (射频特性) 标准：根据R&TTE指令3.2章节要求的IMT-2000 3G基站,中继器及用户端产品的电磁兼容和无线电频谱问题; 第一部分 介绍和一般要求 ETSI EN 301 908-1 V6.2.1 (2013-10) 第二部分 CDMA 直接扩频(UTRA FDD)用
检测项：信道监控功能 检测样品：IMT-2000-CDMA基站，中继器及用户产品 (射频特性) 标准：根据R&TTE指令3.2章节要求的IMT-2000 3G基站,中继器及用户端产品的电磁兼容和无线电频谱问题; 第一部分 介绍和一般要求 ETSI EN 301 908-1 V6.2.1 (2013-10) 第二部分 CDMA 直接扩频(UTRA FDD)用
机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项：阈值（门限电平） 检测样品：逻辑分析仪 标准：GB/T 15471-1995 《逻辑分析仪通用技术条件和测试方法》
检测项：载波输出幅度范围内最大额定输出幅度的工作误差 检测样品：信号发生器 标准：GB/T 12115-1989 高频信号发生器测试方法
检测项：载波输出幅度范围内最大额定输出幅度的工作误差 检测样品：频谱分析仪 标准：GB 11462-1989 《频谱分析仪测试方法 》
机构所在地：四川省绵阳市 更多相关信息>>
检测项：静态参数 检测样品：电平转换器 标准：半导体集成接口电路电平转换器测试方法的基本原理 SJ/T 10804-2000
检测项：动态参数 检测样品：电平转换器 标准：半导体集成接口电路电平转换器测试方法的基本原理 SJ/T 10804-2000
检测项：功能 检测样品：电平转换器 标准：半导体集成接口电路电平转换器测试方法的基本原理 SJ/T 10804-2000
机构所在地：湖北省孝感市 更多相关信息>>
检测项：反射电平 检测样品：微波暗室 标准：微波暗室性能测试方法 GJB 6780-2009
机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项：调谐电平 检测样品：扫频信号发生器 标准：扫频信号发生器测试方法 GB/T13184-1991
检测项：平均噪声电平 检测样品：频谱分析仪 标准：频谱分析仪测试方法 GB11462-1989
检测项：平均噪声电平 检测样品：调制度分析仪 标准：调制分析仪通用规范 SJ20493-1995
机构所在地：北京市 更多相关信息>>
检测项：等电平远端串音 检测样品： 标准：
检测项：等电平远端串音功率和 检测样品： 标准：
机构所在地：上海市 更多相关信息>>
