苏州达方电子有限公司检测中心

检测项：高度模拟 检测样品：锂电池 标准：联合国《关于危险货物运输的建议书 试验和标准手册》ST/SG/AC.10/11/Rev.5

检测项：热测试 检测样品：锂电池 标准：联合国《关于危险货物运输的建议书 试验和标准手册》ST/SG/AC.10/11/Rev.5

检测项：振动 检测样品：锂电池 标准：联合国《关于危险货物运输的建议书 试验和标准手册》ST/SG/AC.10/11/Rev.5

机构所在地：江苏省苏州市 更多相关信息>>

西安芯派电子科技有限公司测试应用中心

检测项：漏极反向电流 检测样品：功率金属氧化物场效应管 标准：半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750E 2006 方法3415.1

检测项：栅极漏电流 检测样品：小型开关电源 标准：半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750E 2006 方法3411.1

检测项：漏极反向电流 检测样品：功率金属氧化物场效应管 标准：半导体测试方法测试标准 MIL-STD-750F:2012 方法3415.1

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

苏州中来光伏新材股份有限公司光伏薄膜实验室

检测项：恒定湿热试验 检测样品：太阳电池组件用绝缘背板 标准：《地面用晶体硅光伏组件——设计鉴定和定型》 IEC 61215-2005

机构所在地：江苏省常熟市 更多相关信息>>

深圳普瑞赛思检测技术有限公司

检测项：输出电流限制 检测样品：移动电话用可充电电池 标准：IEEE关于移动电话用可充电电池标准 IEEE Std 1725-2011

检测项：电池过电流保护要求 检测样品：移动电话用可充电电池 标准：IEEE关于移动电话用可充电电池标准 IEEE Std 1725-2011

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

深圳市斯派克光电科技有限公司实验室

检测项：电源电流 检测样品：普通照明自镇流LED灯 标准：普通照明用50V以上自镇流LED灯　安全要求 GB 24906-2010 IEC 62560:2011 EN 62560:2012

检测项：输出电压和电流 检测样品：普通照明自镇流LED灯 标准：普通照明用50V以上自镇流LED灯　安全要求 GB 24906-2010 IEC 62560:2011 EN 62560:2012

检测项：基本电性能和电流谐波 检测样品：灯具光度 标准：普通照明用LED模块测试方法 GB/T 24824-2009 普通照明用LED模块性能要求 GB/T 24823-2009 IEC/PAS 62717-2011

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

深圳市思达仪表有限公司检测中心

检测项：电流影响 检测样品：0.2级和0.5级静止式电能表 标准：ANSI C12.1-2008 电能表的电计量规范

检测项：电流回路的等效性 检测样品：0.2级和0.5级静止式电能表 标准：ANSI C12.1-2008 电能表的电计量规范

检测项：短时过电流影响试验 检测样品：1级和2级静止式交流有功电能表 标准：GB/T17215.321-2008 交流电测量设备 特殊要求 第21部分：静止式有功电能表（1级和2级）IEC62053-21:2003 交流电测量设备 特殊要求 第21部分：静止式有功电能表（1级和2级）

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团第七0九研究所微电子测试校准实验室

检测项：输出低电流 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：输出高电流 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

检测项：低三态输出电流 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

联想移动通信科技有限公司实验室

检测项：充电器要求 检测样品：移动通信手持机充电器 标准：移动通信手持机充电器及接口技术要求和试验方法 YD/T1591-2009

机构所在地：福建省厦门市 更多相关信息>>

浙江省医疗器械检验院

检测项：谐波电流发射 检测样品：医用电气设备电磁兼容性(EMC) 标准：医用电气设备 第1-2部分：安全通用要求 并列标准：电磁兼容 要求和试验 YY0505-2012 医用电气设备 第1-2部分：基本安全和必要性能通用要求 并列标准：电磁兼

检测项：谐波电流发射 检测样品：体外诊断医疗设备电磁兼容性(EMC) 标准：测量、控制和实验室用的电设备 电磁兼容性要求 第1部分：通用要求 GB/T18268.1-2010 IEC61326-1:2005 测量、控制和实验室用的电设备 电磁兼容性要求 第26部分：特殊要求 体外诊断(IVD)医疗设备 GB/T1826

检测项：谐波电流发射 检测样品：体外诊断医疗设备电磁兼容性(EMC) 标准：测量、控制和实验室用的电设备 电磁兼容性要求 第1部分：通用要求 GB/T18268.1-2010 IEC61326-1:2005 测量、控制和实验室用的电设备 电磁兼容性要求 第26部分：特殊要求 体外诊断(IVD)医疗设备 GB/T1826

机构所在地：浙江省杭州市 更多相关信息>>

北京市医疗器械检验所

检测项：工频磁场抗扰度 检测样品：医用电气设备及体外诊断设备（电磁兼容） 标准：电磁兼容 限值 对额定电流≤16A的设备在低压供电系统中产生的电压波动和闪烁的限制 GB 17625.2-2007； 电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验 GB/T 17626.2-2006；

检测项：电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度 检测样品：医用电气设备及体外诊断设备（电磁兼容） 标准：电磁兼容 限值 对额定电流≤16A的设备在低压供电系统中产生的电压波动和闪烁的限制 GB 17625.2-2007； 电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验 GB/T 17626.2-2006；

检测项：辐射的RF电磁场 检测样品：医用电气设备及体外诊断设备（电磁兼容） 标准：电磁兼容 限值 对额定电流≤16A的设备在低压供电系统中产生的电压波动和闪烁的限制 GB 17625.2-2007； 电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验 GB/T 17626.2-2006；

机构所在地：北京市 更多相关信息>>