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检测项:电子单元输入电流 检测样品:实验室pH(酸度)计 标准:测量、控制和实验室用电气设备的安全要求 第1部分:通用要求 GB 4793.1-2007
检测项:电动机输入功率 检测样品:泵类及液体输送系统 标准:GB/T16666-1996《泵类及液体输送系统节能监测方法》DB11/051-2002《三相异步电动机节能监测标准》
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:输入电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输入高电平电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输入低电平电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:输入高电平电流 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3007.1
检测项:输入低电平电流 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3010.1
检测项:输入高电平电流 检测样品:电子元器件 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.9条
机构所在地:江苏省无锡市 更多相关信息>>
检测项:电子单元输入电流 检测样品:实验室pH计 标准:《实验室pH计》 GB 11165-2005
检测项:电子单元输入电流 检测样品:实验室离子计 标准:《实验室离子计》 JB/T 6245-1992 《pH计和离子计试验方法》 JB/T 6858-1993
检测项:电子单元输入电流 检测样品:工业pH计 标准:《工业pH计》 JB/T 6203-1992
检测项:输入高电平电流IIH 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输入电流 II 检测样品:半导体集成 电路 (TTL) 标准:半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项:输入高电平电流IIH 检测样品:半导体集成 电路 (TTL) 标准:半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项:输入电流 检测样品:晶体振荡器 标准:GJB 1648-1993 晶体振荡器总规范
检测项:输入电流 检测样品:晶体振荡器 标准:GJB 1648A-2011 晶体振荡器总规范
检测项:输入二极管反向电流 检测样品:光电耦合器 标准:GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 15651-1995 半导体器件分立器件 第5部分 光电子器件
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:输入电流变化引起的输出改变量试验 检测样品:电力负荷管理终端 标准:DL/T 533-2007 《电力负荷管理终端》
检测项:不平衡电流对三相有功和无功功率引起的改变量试验 检测样品:交流采样测控单元 标准:《交流采样远动终端条件》、 DL/T630-1997 《远动终端通用技术条件》 GB/T13729-2002
检测项:输入电压变化引起的输出改变量试验 检测样品:电力负荷管理终端 标准:DL/T 533-2007 《电力负荷管理终端》
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:输入失调电流 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输入偏置电流 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输入电流 检测样品:电子产品、军用装备 标准:GB/T 2423.10-2008电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验 Fc:振动(正弦)
机构所在地:云南省昆明市 更多相关信息>>
检测项:输入失调电流 检测样品:电压比较器 标准:SJ/T10805-2000半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项:输入偏置电流 检测样品:电压比较器 标准:SJ/T10805-2000半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项:输入高电平电流 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输入电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项:输入高电平电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项:输入低电平电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
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