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检测项：谐波电流 检测样品：额定电流不大于16A的低压电器及电子设备 标准：GB 17625.1-2003 IEC61000-3-2:2005+A1:2008+A2:2009 EN61000-3-2:2006+A2:2009 低压电器及电子设备发出的谐波电流限值（设备每相输入电流≦16A）
检测项：输入功率和电流 检测样品：家用和类似用途设备 标准：IEC 60335-1 :2001+A1 :2004+A2 :2006,EN60335-1：2002+A11:2004+A1：2004+A12：2006+A2：2006+A13：2008+A14:2010,IEC60335-1:2010, GB4706.1
检测项：谐波电流 检测样品：额定电流不大于16A的低压电器及电子设备 标准：GB 17625.1-2012 IEC61000-3-2:2005+A1:2008+A2:2009 EN61000-3-2:2006+A1:2009+A2:2009 低压电器及电子设备发出的谐波电流限值（设备每相输入电流≦16A）
机构所在地：广东省东莞市 更多相关信息>>
检测项：输入功率和电流 检测样品：家用和类似用途电器 标准：家用和类似用途电器的安全第1部分：通用要求 GB 4706.1-2005 IEC 60335-1:2010 EN 60335-1:2002 +A1:2004+A11:2004 +A2:2006+A12:2006 +A13:2008+A14:
机构所在地：浙江省宁波市 更多相关信息>>
检测项：输入高电平 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM
检测项：输入箝位电压 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10739-1996 半导体集成电路双极型随机存储器测试方法的基本原理 SJ/T10740-1996 半导体集成电路CM
机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项：输入电流测试 检测样品：音视频设备 标准：音频视频及类似的电子设备.安全要求 GB 8898-2011 IEC 60065:2001+A12005+A2:2010 EN 60065:2002+A1:2006+A11:2008+A2:2010+A12:2011
检测项：输入功率和电流 检测样品：家用和类似用途电器 标准：家用和类似用途电器的安全 第1部分：通用要求 IEC 60335-1:2010 EN 60335-1:2002+A11:2004+A1:2004+A12:2006+A2:2006+A13:2008+A14:2010+A15:2011
机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项：输入功率和电流 检测样品：家用和类似用途电器 标准：家用和类似用途电器的安全 通用要求 IEC 60335-1:2001 +A1:2004+A2:2006 IEC 60335-1:2010 +A1:2013 EN 60335-1:2002 +A11:2004+A1:2004+A12:2006+A2:
检测项：输入功率和电流 检测样品：家用电冰箱(安全测试） 标准：家用和类似用途电器的安全 第一部分：通用要求 GB4706.1-2005 家用和类似用途电器的安全制冷器具、冰淇淋机和制冰机的特殊要求GB4706.13-2008
机构所在地：浙江省宁波慈溪市 更多相关信息>>
检测项：输入功率和电流 检测样品：家用和类似用途设备 标准：家用和类似用途设备的安全 第1部分:通用要求 IEC 60335-1:2010 EN 60335-1:2012 GB 4706.1-2005
