湖南航天管理局计量检测中心

检测项：开环电压增益AVD 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输入电流II 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

检测项：输出短路电流IOS 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理

机构所在地：湖南省长沙市 更多相关信息>>

国网计量中心

检测项：动作电压测试 检测样品：集成电路 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 半导体集成电路分规范（不包括混合电路） GB/12750-2006

检测项：返回电压测试 检测样品：集成电路 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 半导体集成电路分规范（不包括混合电路） GB/12750-2006

检测项：动作时间测试 检测样品：集成电路 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 半导体集成电路分规范（不包括混合电路） GB/12750-2006

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

福建省产品质量检验研究院

检测项：全部项目 检测样品：集成电路(IC卡)读写机 标准：集成电路(IC卡)读写机通用规范GB/T18239-2000

机构所在地：福建省福州市 更多相关信息>>

西安东风仪表厂可靠性试验检测中心

检测项：输出高电平电压 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

检测项：输出低电平电压 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

检测项：输入电流 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团第七0九研究所微电子测试校准实验室

检测项：电压量（模拟） 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理SJ/T10738-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理SJ/T10805-2000 半导体集成电路模拟开关测试方法的基

检测项：电流量（模拟） 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理SJ/T10738-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理SJ/T10805-2000 半导体集成电路模拟开关测试方法的基

检测项：频率 检测样品：集成电路 标准：半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理SJ/T10738-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理GB/T4377-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理SJ/T10805-2000 半导体集成电路模拟开关测试方法的基

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

上海集成电路研发中心有限公司测试实验室

检测项： 检测样品： 标准：

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

香港科技园公司无线通讯测试中心

检测项：短讯服务 检测样品： 标准：

检测项：HS-DSCH 解调(恒参讯道) 检测样品：WCDMA 移动台 标准：只测 Band I, II, III, V and VI WCDMA 终端 不测HSUPA， 6.2.1.7及 6.2.1.8

检测项：讯道质量标示报告 检测样品：WCDMA 移动台 标准：只测 Band I, II, III, V and VI WCDMA 终端 不测HSUPA， 6.2.1.7及 6.2.1.8

机构所在地： 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十七研究所计量检测中心

检测项：电压调整率SV 检测样品：半导体 集成电路TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

检测项：电流调整率SI 检测样品：半导体 集成电路TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

检测项：消耗电流ID 检测样品：半导体 集成电路TTL电路 标准：半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

机构所在地：河南省郑州市 更多相关信息>>

贵州航天计量测试技术研究所

检测项：增益误差EG 检测样品：时基电路 标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992 《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

检测项：精度EA 检测样品：时基电路 标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992 《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

检测项：线性误差EL 检测样品：时基电路 标准：《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》GB/T 14030-1992 《半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理》SJ/T 10735-1996

机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>

公安部第三研究所安全防范与信息安全产品及系统检验实验室

检测项：全部项目** 检测样品：具有中央处理器的集成电路（IC）卡芯片 标准：《信息安全技术 具有中央处理器的集成电路（IC）卡芯片安全技术要求》 GB/T 22186-2008

机构所在地：上海市 更多相关信息>>