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检测项：输出短路电流 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项：输出短路电流 检测样品：运算(电压)放大器 标准：半导体集成电路运算(电压)放大器 测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项：驻波比 检测样品：失配器/短路器/开路器 标准：微波元器件性能测试方法 GJB 2650-1996
机构所在地：重庆市 更多相关信息>>
检测项：部分参数 检测样品：矿用隔爆型高压真空配电装置 标准：①《矿用隔爆型高压真空配电装置》JB8739—1998
检测项：部分参数 检测样品：高压交流负荷开关 标准：①《3.6kV～40.5kV高压交流负荷开关》 GB 3804—2004 ②《高压开关设备和控制设备第103部分:额定电压1kV以上、52kV及以下的负荷开关》 IEC 62271—103:20
检测项：承受短路的耐热能力 检测样品：电力 变压器 标准：①《电力变压器 第五部分： 承受短路的能力》 GB1094.5—2008 ②电力变压器 第一部分 总则 GB1094.1—1996 ③电力变压器 第一部分 总则
机构所在地：上海市 更多相关信息>>
检测项：漏--源短路时的栅极截止电流IGSS 检测样品：场效应管 标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管
检测项：输出短路电流Ios 检测样品：模拟/混合集成电路 标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199
检测项：小信号短路正向跨导gfs 检测样品：场效应管 标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管
机构所在地：河南省洛阳市 更多相关信息>>
检测项：输出短路电流 检测样品：数字集成 电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项：输入失调电流 检测样品：数字集成 电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
检测项：输入偏置电流 检测样品：数字集成 电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000
机构所在地：甘肃省兰州市 更多相关信息>>
检测项：输出短路电流 检测样品：模拟集成电路 标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996
检测项：输入高电平电流 检测样品：模拟集成电路 标准：《半导体集成电路总规范》GJB597A-1996
检测项：输出短路电流IOS 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项：栅极截止电流IGSS 检测样品：场效应晶体管 标准：GB/T4586-1994 半导体器件分立器件 第9部分：场效应晶体管
机构所在地：湖南省长沙市 更多相关信息>>
检测项：短路电流试验 检测样品：电抗器 标准：电力变压器 第6部分：电抗器 GB/T 1094.6-2011
检测项：短时耐受电流和峰值耐受电流 检测样品：封闭母线 标准：高压开关设备和控制设备 第205部分：额定电压52kV及以上紧凑型成套开关设备 IEC 62271-205:2008
检测项：额定启动电流试验 检测样品：交流自动 分段器 标准：交流自动分断器订货技术条件 DL/T 406-2010
机构所在地：辽宁省沈阳市 更多相关信息>>
检测项：短路电流 检测样品：超短波治疗设备 标准：YY91086-1999《超短波治疗设备技术条件》
检测项：连续漏电流和患者辅助电流 检测样品：热垫式治疗仪 标准：YY/T 0165-2007《热垫式治疗仪》
检测项：连续漏电流和患者辅助电流 检测样品：立式压力蒸汽消毒器 标准：YY1007-2010立式蒸汽灭菌器
机构所在地：吉林省长春市 更多相关信息>>
检测项：短路电流试验 检测样品：分流插座和转换器 标准：分流插座和转换器 UL 498A:2008（Ed.2）
检测项：短路电流试验 检测样品：卷线盘 标准：卷线盘标准 UL355:2004（Ed.10）
检测项：部分参数 检测样品：限制表面温度灯具 标准：限制表面温度灯具安全要求 GB 7000.17-2003 IEC 60598-2-24:1997 EN 60598-2-24:1998
机构所在地：浙江省杭州市 更多相关信息>>
检测项：输出短路电流 检测样品：半导体集成电路CMOS电路 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005
机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>
