西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：输出短路电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：反向漏电流 检测样品：二极管 标准：半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T 6571-1995 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管 GB/T 4023-1997

检测项：输出高阻态时低电平电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第五十八研究所检测中心

检测项：输出短路电流 检测样品：电子元器件 标准：微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3005.1

检测项：输出短路电流 检测样品：电子元器件 标准：微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3011.1

检测项：输出短路电流 检测样品：电子元器件 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000 第5.16条

机构所在地：江苏省无锡市 更多相关信息>>

东方电子股份有限公司检测中心

检测项：调度员培训仿真器 检测样品： 标准：

检测项：部分项目 检测样品：变压器保护装置 标准：DL/T 770—2012变压器保护装置通用技术条件

检测项：部分项目 检测样品：输电线路保护装置 标准：GB/T 15145—2008输电线路保护装置通用技术条件

机构所在地：山东省烟台市 更多相关信息>>

中国科学院电工研究所太阳光伏发电系统和风力发电系统质量检测中心

检测项：短路电流 检测样品：聚光组件 标准：IEC60904-2:2007光伏器件 第2部分：标准光伏器件的要求

检测项：短路电流 检测样品：光伏组件 标准：光伏器件 第2部分：标准光伏器件的要求IEC60904-2:2007

检测项：短路电流 检测样品：太阳能光伏电源用控制器 标准：IEC60904-4:2009光伏器件 第4部分：标准光伏器件-标定溯源程序

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

北京青云航空仪表有限公司理化计量中心

检测项：输出短路电流Ios 检测样品：半导体集成 电路 (CMOS) 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：输出短路电流Ios 检测样品：半导体集成 电路 (TTL) 标准：半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

检测项：集电极-基极截止电流 检测样品：晶体管 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管GB/T4587-1994

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

普德光伏技术（苏州）有限公司

检测项：光伏组串短路电流的测试 检测样品： 标准：CGC/GF003.1：2009并网光伏发电系统工程验收基本要求

检测项：光伏阵列短路电流 检测样品：并网光伏发电系统 标准：IEC62446：2009并网光伏发电系统文件、试运行测试和检查的基本要求 CGC/GF003.1：2009并网光伏发电系统工程验收基本要求

检测项：湿漏电流试验 检测样品：光伏（PV）组件安全 标准：IEC 61730-2:2012 光伏（PV）组件安全组件安全鉴定第二部分：试验要求

机构所在地：江苏省苏州市 更多相关信息>>

上海华岭集成电路技术股份有限公司检测中心

检测项：输出短路电流 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体器件 集成电路 第2部分：数字集成电路 GB/T 17574-1998

检测项：短路电流 检测样品：CMOS集成电路 标准：集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理　 SJ20961-2006

检测项：输出短路电流 检测样品：RF器件 标准：半导体器件 集成电路 第2部分： 数字集成电路 GB/T 17574-1998

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

常州华阳光伏检测技术有限公司

检测项：光伏阵列短路电流 检测样品： 标准：CGC/GF003.1：2009并网光伏发电系统工程验收基本要求

检测项：光伏组串短路电流的测试 检测样品： 标准：CGC/GF003.1：2009并网光伏发电系统工程验收基本要求

检测项：额定电池工作温度的测量 检测样品：地面 用晶 体硅光 伏组件 标准：GB/T9535-1998地面用晶体硅光伏组件设计鉴定和定型

机构所在地：江苏省常州市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

检测项：输出短路电流 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理

检测项：输出短路电流 检测样品：运算放大器 标准：SJ/T10738-1996半导体集成电路运算（电压）放大器测试方法的基本原理

检测项：小信号短路正向跨导 检测样品：场效应晶体管 标准：GB/T4586-1994半导体分立器件分立器件第8部分场效应晶体管

机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>

西南计算机有限责任公司检测计量与软件测评中心

检测项：输出短路电流 检测样品：CMOS集成电路 标准：半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000

检测项：输出短路电流 检测样品：运算(电压)放大器 标准：半导体集成电路运算(电压)放大器 测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996

检测项：驻波比 检测样品：失配器/短路器/开路器 标准：微波元器件性能测试方法 GJB 2650-1996

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>