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架空绝缘电缆检验项目——10kV架空绝缘电缆检验项目 10kV架空绝缘电缆检验项目 承载绞线结构 绝缘平均厚度 绝缘最薄处厚度 导体电阻试验 局部放电试验(适用于有绝缘屏蔽的电缆) 弯曲试验及随后局部放电试验(适用于有绝缘屏蔽的电缆) tgδ与电压关系试验(适用于有绝缘屏蔽的电缆...查看详情>>
10kV架空绝缘电缆检验项目
收起百科↑ 最近更新:2018年11月28日
检测项:振动试验 检测样品:家用和类似用途电磁四通换向阀 标准:电工电子产品环境试验 第2部分 试验方法 试验 Fc 和导则 振动GB/T 2423.10-2008
检测项:抗拉强度 检测样品:电工电子 产品 标准:金属材料拉伸试验第1部分:室温试验方法 GB/T 228.1-2010
检测项:维氏硬度 检测样品:金属材料 标准:金属材料维氏硬度试验第1部分:试验方法 GB/T4340.1-2009
机构所在地:浙江省诸暨市 更多相关信息>>
检测项:灼烧减量 检测样品:石灰石 标准:化工用石灰石中灼烧失量的测定 重量法GB/T15057.10-1994
检测项:灼烧失量 检测样品:石灰石 标准:化工用石灰石中灼烧失量的测定 重量法GB/T15057.10-1994
检测项:烧失量 检测样品:滑石 标准:滑石化学分析方法 GB/T 15343-1994
机构所在地: 更多相关信息>>
检测项:金属布氏硬度HBW 检测样品:金属材料及其制品 标准:金属布氏硬度试验 第1部分 试验方法 GB/T 231.1-2009
检测项:浪涌冲击试验 检测样品:电子设备用机电元件 标准:电磁兼容 试验和测量技术 浪涌(冲击)抗扰度试验 GB/T 17626.5-2008
检测项:静电放电抗扰度试验 检测样品:电子设备用机电元件 标准:电磁兼容 试验和测量技术 静电放电抗扰度试验 GB/T 17626.2-2006
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:疲劳 检测样品:铁磁材料 标准:金属材料疲劳试验轴向力控制方法GB/T 3075-2008
检测项:冲击试验 检测样品:铁磁材料 标准:金属材料夏比摆锤冲击试验方法 GB/T229-2007
检测项:冲击试验 检测样品:金属和金属制品 标准:金属材料夏比摆锤冲击试验方法 GB/T229-2007
机构所在地:江苏省张家港市 更多相关信息>>
检测项:TFe 检测样品:矿石与矿物 标准:铁矿石 全铁含量的测定 三氯化钛还原重铬酸钾滴定法(常规方法) GB/T6730.65-2009
检测项:洛氏硬度 检测样品:铁磁材料 标准:金属材料洛氏硬度试验 第1部分:试验方法(A、B、C、D、E、F、G、H、K、N、T标尺)GB/T 230.1-2009
检测项:C10:0癸酸 检测样品:粮食、油脂及制品 标准:动植物油脂 脂肪酸 甲酯的气相色谱分析GB/T 17377-2008
检测项:C10:0癸酸 检测样品:婴幼儿配方食品和乳制品 标准:食品安全国家标准 婴幼儿配方食品和乳品中脂肪酸的测定GB 5413.27-2010
检测项:粗纤维 检测样品:食品 标准:植物类食品中粗纤维的测定GB/T5009.10-2003
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:C、S、Nb、Si、Mn、V、P 检测样品:钢铁材料 标准:碳素钢和中低合金钢 火花源原子发射光谱分析方法(常规法) GB/T 4336-2002
检测项:全硫 检测样品:焦炭 标准:煤中全硫的测定方法 GB/T 214-2007
检测项:全硫 检测样品:锰铁合金 标准:煤中全硫的测定方法 GB/T 214-2007
机构所在地:辽宁省抚顺市 更多相关信息>>
检测项:机械冲击 碰撞 检测样品:电工电子产品 标准:半导体器件 机械和气候试验方法 第10部分:机械冲击 GB/T4937.10-2006
检测项:高低温低气压 检测样品:电工电子产品 标准:半导体器件 机械和气候试验方法 第2部分:低气压 GB/T4937.2-2006
检测项:高低温低气压 检测样品:电工电子产品 标准:电工电子产品环境试验 第2部分: 试验方法 试验Z/AM:低温/低气压综合试验 GB/T2423.25-2008
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>
检测项:振动试验 检测样品:电气电子产品 标准:《包装 运输包装件基本试验第10部分:正弦变频振动试验方法》GB/T4857.10-2005
检测项:盐雾 (腐蚀) 检测样品:电气电子 产品 标准:《半导体集成电路机械和气候试验方法》SJ/T10745-1996第3.14条
检测项:盐雾 (腐蚀) 检测样品:电气电子 产品 标准:《微电子器件试验方法和程序》GJB548A-1996方法1009A
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:正向直流电压 检测样品:二极管 标准:半导体器件 分立器件 第3部分:信号(包括开关)和调整二极管GB/T6571-1995 半导体器件分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管 GB/T4023-1997 半导体分立器件试验方法GJB128A-1997
检测项:C、E饱和电压 检测样品:双极型 晶体管 标准:半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管 GB/T 4587-1994 半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997
检测项:正向压降 检测样品:光耦合器 标准:半导体光耦合器(二极管)反向电流的测试方法SJ2215.2-1982
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>