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机构所在地:上海市
检测项:机械冲击 检测样品:电子元器件及设备 机械性能试验 标准:1、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法
检测项:机械冲击 检测样品:电子元器件及设备 机械性能试验 标准:8、GB/T 2423.5-1995 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Ea和导则:冲击
机构所在地:河北省石家庄市
检测项:碰撞 检测样品:电工电子 产品 标准:电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Eb和导则:碰撞 GB/T 2423.6-1995 IEC 60068-2-29:1987
机构所在地:浙江省杭州市
检测项:机械冲击 碰撞 检测样品:电工电子产品 标准:半导体器件 机械和气候试验方法 第10部分:机械冲击 GB/T4937.10-2006
检测项:冲击 检测样品:混合集成电路 标准:膜集成电路和混合膜集成电路 总规范 GB/T8976-1996
机构所在地:重庆市
检测项:冲击试验 检测样品:电子电工产品 标准:GJB150.18A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第18部分:冲击试验
检测项:冲击试验 检测样品:电子电工产品 标准:GJB150.18-1986 军用设备环境试验方法 冲击试验
机构所在地:山东省青岛市