公安部第一研究所安全与警用电子产品质量检测中心

检测项：外观和结构检查 检测样品：**集成电路（IC）卡读写机 标准：《集成电路（IC）卡读写机通用规范》GB/T18239-2000

检测项：功能 检测样品：**集成电路（IC）卡读写机 标准：《集成电路（IC）卡读写机通用规范》GB/T18239-2000

检测项：电源 检测样品：**集成电路（IC）卡读写机 标准：《集成电路（IC）卡读写机通用规范》GB/T18239-2000

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

山东省计量科学研究院

检测项：全部参数 检测样品：集成电路(IC)卡读写机 标准：《集成电路（IC）卡读写机通用规范》GB/T18239-2000

机构所在地：山东省济南市 更多相关信息>>

华东光电集成器件研究所计量测试中心

检测项：部分项目 检测样品：混合集成电路外壳 标准：半导体集成电路外壳总规范　 GJB1420A-1999

检测项： 检测样品： 标准：混合膜集成电路外壳总规范 GJB2440-1995

检测项：部分项目 检测样品：混合集成电路外壳 标准：混合膜集成电路外壳总规范 GJB2440-1995

机构所在地：安徽省蚌埠市 更多相关信息>>

娄底市产商品质量监督检验所

检测项：全部参数 检测样品：厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片 标准：厚膜集成电路用氧化铝陶瓷基片 GB/T 14619-1993

检测项：全部参数 检测样品：薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片 标准：薄膜集成电路用氧化铝陶瓷基片 GB/T 14620-1993

检测项：全部参数 检测样品：微波集成电路用氧化铝陶瓷基片 标准：微波集成电路用氧化铝陶瓷基片 SJ/T 10243-1991

机构所在地：湖南省娄底市 更多相关信息>>

国营长风机器厂环境试验检测计量中心

检测项：输入失调电压 检测样品：集成运放 电路 标准：半导体器件集成电路；第3部分：模拟集成电路 GB/T17940-2000

检测项：输入失调电流 检测样品：数字集成 电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000

检测项：输入偏置电流 检测样品：数字集成 电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/10741-2000

机构所在地：甘肃省兰州市 更多相关信息>>

国网计量中心

检测项：动作电压测试 检测样品：集成电路 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 半导体集成电路分规范（不包括混合电路） GB/12750-2006

检测项：返回电压测试 检测样品：集成电路 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 半导体集成电路分规范（不包括混合电路） GB/12750-2006

检测项：动作时间测试 检测样品：集成电路 标准：微电子器件试验方法和程序 GJB548B-2005 半导体集成电路分规范（不包括混合电路） GB/12750-2006

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

福建省产品质量检验研究院

检测项：全部项目 检测样品：集成电路(IC卡)读写机 标准：集成电路(IC卡)读写机通用规范GB/T18239-2000

机构所在地：福建省福州市 更多相关信息>>

上海集成电路研发中心有限公司测试实验室

检测项： 检测样品： 标准：

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

香港科技园公司无线通讯测试中心

检测项：短讯服务 检测样品： 标准：

检测项：HS-DSCH 解调(恒参讯道) 检测样品：WCDMA 移动台 标准：只测 Band I, II, III, V and VI WCDMA 终端 不测HSUPA， 6.2.1.7及 6.2.1.8

检测项：讯道质量标示报告 检测样品：WCDMA 移动台 标准：只测 Band I, II, III, V and VI WCDMA 终端 不测HSUPA， 6.2.1.7及 6.2.1.8

机构所在地： 更多相关信息>>

公安部第三研究所安全防范与信息安全产品及系统检验实验室

检测项：全部项目** 检测样品：具有中央处理器的集成电路（IC）卡芯片 标准：《信息安全技术 具有中央处理器的集成电路（IC）卡芯片安全技术要求》 GB/T 22186-2008

机构所在地：上海市 更多相关信息>>