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医用直线加速器产品描述:通常由机架、辐射头、治疗床、控制台、图像引导装置等组成。 医用直线加速器预期用途:用于患者肿瘤或其他病灶的放射治疗。 医用直线加速器品名举例:医用直线加速器 管理类别:Ⅲ X射线立体定向放射外科治疗系统产品描述:通常由辐射头、机械手臂、立体定向装置、治疗床、治疗计划系统等组成。 X射线立体定向放射外科治...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年02月24日
检测项:铜片腐蚀 检测样品:石油产品 标准:能量色散X射线荧光光谱法测定石油和石油产品硫的标准测试方法 ASTM D4294-10
检测项:硫含量 检测样品:石油产品 标准:能量色散X射线荧光光谱法测定石油和石油产品硫的标准测试方法 ASTM D4294-10
检测项:硫含量 检测样品:石油产品 标准:石油和石油产品硫含量的测定 能量色散X射线荧光光谱法 GB/T 17040-2008
机构所在地:江苏省太仓市 更多相关信息>>
检测项:磷 检测样品:煤炭 标准:X射线荧光光谱法测定煤灰和焦炭灰中的主次元素含量 ASTMD 4326-11
检测项:磷 检测样品:磷矿石 标准:X射线荧光光谱法测定煤灰和焦炭灰中的主次元素含量 ASTMD 4326-11
检测项:铁、镁、铝、钙、硅 检测样品:锰矿 标准:铬矿中铬、硅、铁、铝、镁、钙的测定 波长色散X射线荧光光谱法 SN/T 1118-2002
机构所在地:江苏省连云港市 更多相关信息>>
检测项:低辐照度下的性能测试 检测样品:地面用晶体硅光伏组件 标准:IEC 61730-2 2004光伏(PV)组件安全性鉴定 第二部分:试验要求
检测项:旁路二极管热性能试验 检测样品:地面用晶体硅光伏组件 标准:IEC 61730-2 2004光伏(PV)组件安全性鉴定 第二部分:试验要求
检测项:标准测试条件及标称工作温度下的性能 检测样品:地面用晶体硅光伏组件 标准:IEC 61215-2005《地面用晶体硅光伏组件-设计鉴定和定型》
机构所在地: 更多相关信息>>
检测项:X射线衍射物相分析 检测样品:非金属矿原料 标准:转靶多晶体X射线方法通则 JY/T 009-1996
检测项:石棉 检测样品:矿物原料及制品 标准:《非金属矿中石棉的定性方法 X射线衍射-显微镜观察法 》SN/T 2731-2010
检测项:石棉 检测样品:矿物原料及制品 标准:《用X射线衍射蛇纹石石棉检测方法》 NIOSH 9000:1994
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:定向材料拉伸性能 检测样品:纤维增强塑料 标准:定向纤维增强塑料拉伸性能试验方法 GB/T3354-1999
检测项:弯曲性能 检测样品:纤维增强塑料 标准:塑料 弯曲性能的测试方法 ISO 178:2010
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:X射线检查 检测样品:电子电工产品 标准:电子探针和扫描电镜X射线能谱定量分析通则 GB/T 17359-1998
检测项:X射线检查 检测样品:发光二极管 标准:半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 军用电子元器件破坏性物理分析方法 GJB 4027A-2006 电子、电磁和机电元器件破坏性物理分析方法MIL-STD-1580B
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:空调系统检验 检测样品:汽车 标准:《汽车空调制冷系统性能道路试验方法》QC/T 658-2009
检测项:制动系统结构、性能 检测样品:汽车 标准:《机动车和挂车防抱制动系统性能要求和试验方法》GB/T13594-2003
检测项:X射线照相检验 检测样品:半导体分立器件 标准:《半导体分立器件试验方法》GJB128A-1997
检测项:X射线照相检验 检测样品:微电子器件 标准:《微电子器件试验方法和程序》GJB548B-2005
检测项:X射线照相 检测样品:微电子器件 标准:《微电子器件试验方法和程序》GJB548B-2005
机构所在地:贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项:晶向偏离度 检测样品: 标准:《半导体单晶晶向测定方法》GB/T 1555-2009
检测项:厚度 检测样品: 标准:《硅片厚度和总厚度变化测试方法》GB/T 6618-2009
检测项:总厚度变化 检测样品: 标准:《硅片厚度和总厚度变化测试方法》GB/T 6618-2009
机构所在地:浙江省衢州市 更多相关信息>>
检测项:扫描电子显微技术和电子束显微分析 检测样品:集成电路/微电子器件 标准:微电子器件试验方法和程序 方法5003 微电路的失效分析程序 GJB 548B-2005
检测项:内部检查 检测样品:集成电路/微电子器件 标准:微电子器件试验方法和程序 方法5003 微电路的失效分析程序 GJB 548B-2005
检测项:X射线照相 检测样品:电阻器/电容器 标准:微电子器件试验方法和程序 方法5003 微电路的失效分析程序 GJB 548B-2005
机构所在地:江苏省苏州市 更多相关信息>>