湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：栅-源截止电压VGSoff 检测样品：场效应晶体管 标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

检测项：栅-源阈值电压VGS（th） 检测样品：场效应晶体管 标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

检测项：栅源击穿电压 V（BR）GSS 检测样品：场效应晶体管 标准：半导体器件分立器件第8部分：场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997

机构所在地：湖北省孝感市 更多相关信息>>

深圳中航技术检测所

检测项：源电压效应 检测样品：固定电阻器 标准：GB/T5729-2003电子设备用固定电阻器 第一部分：总规范

检测项：输出电压 检测样品：耐压测试仪 标准：SJ/T11384-2008耐电压测试仪通用规范

检测项：交流输出电压频率 检测样品：耐压测试仪 标准：SJ/T11384-2008耐电压测试仪通用规范

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

国家广播电影电视总局电影技术质量检测所

检测项：对应于额定失真限制的输出电压的最小源电动势 检测样品：数字电影用声频功率放大器 标准：《数字电影中档和流动放映系统用声频功率放大器技术要求和测量方法》GY/T 248-2011

检测项：过载源电动势 检测样品：声频功率放大器 标准：《高保真声频放大器最低性能要求》GB/T14200-1993

检测项：过载源电动势 检测样品：数字电影用声频功率放大器 标准：《数字电影中档和流动放映系统用声频功率放大器技术要求和测量方法》GY/T 248-2011

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国航空无线电电子研究所元器件检测中心

检测项：栅源阈值电压 检测样品：场效应管 标准：GJB 33A-1997 半导体分立器件总规范 GB/T 4586-1994 半导体器件 分立器件第8部分:场效应晶体管

检测项：截止态源极漏电流 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

检测项：截止态源极漏电流 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

检测项：栅-源截止电压 检测样品：场效应晶体管 标准：GB/T4586-1994半导体分立器件分立器件第8部分场效应晶体管

检测项：栅-源阈值电压 检测样品：场效应晶体管 标准：GB/T4586-1994半导体分立器件分立器件第8部分场效应晶体管

检测项：电压调整率SV 检测样品：电压调整器 标准：GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理

机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>

北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：栅源阈值电压VGS(th) 检测样品：场效应晶体管 标准：GB/T4586-1994半导体器件 第8部分：场效应晶体管

检测项：漏源通态电压VDSon 检测样品：光耦合器 标准：1.GB/T15651.3-2003半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法 2.GB12565-1990半导体器件光电子器件分规范

检测项：正电源电压抑制比KSVR+ 检测样品：半导体集成电路（电压比较器） 标准：1.SJ/T10805-2000半导体集成电路 电压比较器测试方法的基本原理 2.GB/T 4589.1-2006半导体器件 第10部分：分立器件和集成电路总规范 3.GB/T 16464-1996 半导体器件 集成电路

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

宜昌测试技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一0研究所）环境可靠性及电磁兼容检测实验室

检测项：栅-源击穿电压 检测样品：场效应晶体管 标准：GB/T4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管

检测项：栅-源击穿电压 检测样品：场效应晶体管 标准：GB/T4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管

检测项：栅源阈值电压 检测样品：半导体集成电路TTL电路 标准：GB/T4586-1994 半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管

机构所在地：湖北省宜昌市 更多相关信息>>

深圳市天海检测技术有限公司

检测项：与交流电网电源的连接 检测样品：信息技术设备的安全 标准：IEC60950-1:2005 EN60950:2006+A11:2009 GB4943:2001 信息技术设备的安全

检测项：交流电网电源的断接 检测样品：信息技术设备的安全 标准：IEC60950-1:2005 EN60950:2006+A11:2009 GB4943:2001 信息技术设备的安全

检测项：与交流电网电源的连接 检测样品：信息技术设备的安全 标准：IEC60950-1:2005 EN60950:2006+A11:2009 GB4943:2011 信息技术设备的安全

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

陕西省电子技术研究所电子元器件检测筛选中心

检测项：栅源阈值电压（VGS(th)） 检测样品：场效应管 标准：半导体器件 分立器件 第8部分：场效应晶体管 GB/T4586-94 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97

检测项：漏源通态电压（VDS(on)） 检测样品：光电 耦合器 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分 双极型晶体管 GB/T 4587-94 半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管 GB/T 4023-1997 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97 半导体分

检测项：漏源击穿电压（BVDSS） 检测样品：光电 耦合器 标准：半导体分立器件和集成电路 第7部分 双极型晶体管 GB/T 4587-94 半导体器件 分立器件和集成电路 第2部分:整流二极管 GB/T 4023-1997 半导体分立器件试验方法 GJB128A-97 半导体分

机构所在地：陕西省西安市 更多相关信息>>

国家电光源质量监督检验中心（北京）

检测项：性能/全部参数 检测样品：单端无极荧光灯用交流电子镇流器 标准：QB/T2871-2007单端无极荧光灯用交流电子镇流器

检测项：性能/全部参数 检测样品：单端无极荧光灯用交流电子镇流器 标准：GB29143-2012 单端无极荧光灯用交流电子镇流器能效限定值及能效等级

检测项：安全/全部参数 检测样品：直流或交流电子镇流器 标准：GB19510.13-2007 IEC 61347-2-12 2005灯的控制装置 第13部份：放电灯（荧光灯除外）用直流或交流电子镇流器的特殊要求

机构所在地：北京市 更多相关信息>>