北京科星瑞特电磁兼容工程技术有限公司电磁兼容实验室

检测项：RE103 10kHz～40GHz天线谐波和乱真输出辐射发射 检测样品：军用设备和分系统、武器系统 标准：军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求 GJB 151A-97 军用设备和分系统电磁发射和敏感度测量 GJB 152A-97 电磁干扰发射和敏感度控制要求/特性测量 MIL-STD-461E

检测项：RE103 10kHz～40GHz天线谐波和乱真输出辐射发射 检测样品：军用设备和分系统、武器系统 标准：军用设备和分系统电磁发射和敏感度要求 GJB 151A-97 军用设备和分系统电磁发射和敏感度测量 GJB 152A-97 电磁干扰发射和敏感度控制要求/特性测量 MIL-STD-461E

检测项：交流供电特性 检测样品：电子和电气产品、信息设备及工、科、医类设备 标准：飞机供电特性 GJB 181A-2003 飞机供电特性 MIL-STD-704F

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

国家质量监督检验检疫总局危险品中心实验室

检测项：输入功率和电流 检测样品：吸油烟机 标准：家用和类似用途电器的安全 第1部分：通用要求 GB4706.1-2005/IEC60335-1:2004 家用和类似用途电器的安全 吸油烟机的特殊要求 GB4706.28-2008

检测项：输入功率和电流 检测样品：空调器（安全性能） 标准：家用和类似用途电器的安全 第1部分：通用要求 GB4706.1-1998 家用和类似用途电器的安全 热泵、空调器和除湿机的特殊要求 GB 4706.32-2004

检测项：偶然过电流试验 检测样品：小功率电动机(安全要求) 标准：小功率电动机的安全要求 GB 12350-2009

机构所在地：天津市 更多相关信息>>

四川中光防雷科技股份有限公司雷电防护产品检测中心

检测项：脱离器的动作负载耐受试验 检测样品：低压配电系统电涌保护器（SPD） 标准：电信和信号网络的电涌保护器（SPD）第1部分：性能要求和试验方法GB/T 18802.21-2004

检测项：8/20µs冲击电流测量残压 检测样品：低压配电系统电涌保护器（SPD） 标准：低压配电系统的电涌保护器(SPD)第1部分：性能要求和试验方法 GB18802.1-2011

检测项：负载侧电涌耐受能力试验 检测样品：信号网络浪涌保护器（SPD） 标准：信号网络浪涌保护器（SPD）技术要求和测试方法 YD/T 1542-2006

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七二四研究所计量测试中心

检测项：集电极-基极截止电流 检测样品：双极型晶体管 标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 第Ⅳ章2.1条 第Ⅳ章2.2条 第Ⅳ章3条 第Ⅳ章4.2条 第Ⅳ

检测项：电流传输比 检测样品：光电 标准：GB/T15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分 光电子器件测试方法 第5.1条 第5.6.2条

检测项：集电极-发射极截止电流 检测样品：耦合器 标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管 第Ⅳ章3条

机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团公司第七一六研究所机电设备环境与可靠性试验检测中心

检测项：集电极-基极截止电流 检测样品：晶体三极管 标准：GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管

检测项：集电极-基极截止电流 检测样品：晶体三极管 标准：GB/T4587-1994 《半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管》

检测项：漏电流 检测样品：电连接器 标准：GJB1217A-2009 电连接器试验方法

机构所在地：江苏省连云港市 更多相关信息>>

湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：部分参数 检测样品：电压调整器 标准：半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996

检测项：发射极-基极截止电流IEBO 检测样品：晶体管 标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 半导体分立器件和集成电路第7部分：场效应晶体管 GB/T 4587-1994

检测项：集电极-发射极截止电流ICEO 检测样品：晶体管 标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 半导体分立器件和集成电路第7部分：场效应晶体管 GB/T 4587-1994

机构所在地：湖北省孝感市 更多相关信息>>

西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：反向漏电流 检测样品：二极管 标准：半导体器件分立器件第3部分：信号（包括开关）和调整二极管 GB/T 6571-1995 分立器件和集成电路 第2部分：整流二极管 GB/T 4023-1997

检测项：输出高阻态时低电平电流 检测样品：CMOS电路 标准：半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000

检测项：复位电流 检测样品：时基电路 标准：半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

深圳市亿博科技有限公司

检测项：接触电流和保护导体电流 检测样品：信息技术设备 标准：信息技术设备 安全 第1部分：通用要求 GB 4943.1:2011; IEC 60950-1:2005+A1:2009; EN 60950-1:2006+A11:2009+A1:2010+A12:2011

检测项：接触电流和保护导体电流 检测样品：信息技术设备 标准：信息技术设备 安全 第1部分：通用要求 GB 4943.1-2011; IEC 60950-1:2005+A1:2009; EN 60950-1:2006+A11:2009+A1:2010+A12:2011

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

广州市赛达检测技术有限公司

检测项：接触电流和保护导体电流 检测样品：信息技术设备 标准：信息技术设备 安全 第1部分：通用要求 GB 4943.1-2011; IEC 60950-1:2005+A1:2009; EN 60950-1:2006+A11:2009+A1:2010+A12:2011

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

捷普科技（上海）有限公司产品验证实验室

检测项：接触电流和保护导体电流 检测样品：信息技术设备 标准：信息技术设备的安全 第1部分：一般要求 IEC 60950-1:2005 (2nd Edition)+A1:2009 EN 60950-1:2006+ A11:2009+A1:2010+A12:2011

检测项：输入电流 检测样品：医用电气设备 标准：医用电气设备第1部分：安全通用要求 IEC 60601-1:1988 +A1:1992+ A2:1995 EN 60601-1:1990+A1:1993 +A11:1993+A12:1993+ A2:1995+A13:1996 IEC 60601-1:2

检测项：漏电流和患者辅助电流 检测样品：医用电气设备 标准：医用电气设备第1部分：安全通用要求 IEC 60601-1:1988+ A1:1992+A2:1995 EN 60601-1:1990 +A1:1993+ A11:1993+A12:1993+ A2:1995+A13:1996 IEC 60601-1:2

机构所在地：上海市 更多相关信息>>