中国船舶重工集团公司第七二二研究所计量检测中心

检测项：集电极 –发射极截止电流ICEO 检测样品：光电耦合器 标准：GB╱T15651-1995 《半导体器件 分立器件第5部分： 光电子器件》 GB／T6571-1995《半导体分立器件 第3部分》 GB／T4587-1994《半导体器件分立器件第7部分双极型晶体管》第Ⅳ章

检测项：发射极 –基极截止电流Iebo 检测样品：光电耦合器 标准：GB╱T15651-1995 《半导体器件 分立器件第5部分： 光电子器件》 GB／T6571-1995《半导体分立器件 第3部分》 GB／T4587-1994《半导体器件分立器件第7部分双极型晶体管》第Ⅳ章

检测项：集电极-发射极饱和电压Vcesat 检测样品：光电耦合器 标准：GB╱T15651-1995 《半导体器件 分立器件第5部分： 光电子器件》 GB／T6571-1995《半导体分立器件 第3部分》 GB／T4587-1994《半导体器件分立器件第7部分双极型晶体管》第Ⅳ章

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

通用电气(中国)研究开发中心有限公司通用电气照明集团(亚洲)技术中心实验室

检测项：部分参数 检测样品：汽车灯 标准：道路机动车辆灯泡尺寸、光电性能要求 GB15766.1-2008 IEC60809:2004

检测项：部分参数 检测样品：LED灯 标准：小型灯 GB15766.3-2007 IEC60983:2005

检测项：部分参数 检测样品：汽车灯 标准：道路机动车辆灯泡尺寸、光电性能要求 GB15766.2-2007 IEC60810:2003

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

南车青岛四方机车车辆股份有限公司计量理化检测中心

检测项：C、Si、Mn、P、 S、Ni、Cr、W、Mo、V、Al、Ti、Cu、Nb、Co、B、As、Sn、Zr 检测样品：钢铁及合金 标准：碳素钢和中低合金钢的光电发射光谱分析方法 GB/T4336-2002 钢铁及合金光电发射光谱分析法通则 GB/T14203-1993

检测项：C、Si、Mn、P、 S、Ni、Cr、W、Mo、V、Al、Ti、Cu、Nb、Co、B、As、Sn、Zr 检测样品：钢铁及合金 标准：碳素钢和中低合金钢的光电发射光谱分析方法 GB/T4336-2002 钢铁及合金光电发射光谱分析法通则 GB/T14203-1993

检测项：Si、Fe、Cu、Mn、Mg、Cr、Zn、Ti、Ni、Bi、Pb、Zr、Ga、V、Sn、B、Be 检测样品：铝及铝合金 标准：铝及铝合金的光电发射光谱分析方法 JISH 1305-2005

机构所在地：山东省青岛市 更多相关信息>>

中科华核电技术研究院有限公司核安全电气设备鉴定检测中心

检测项：功率 老炼 检测样品：电子元器件 标准：光电器件环境应力筛选通用要求 GJB 4508-2002

检测项：功率 老炼 检测样品：电子元器件 标准：(1)光电器件环境应力筛选通用要求 GJB 4508-2002

检测项：电阻体阻值 检测样品：发光二极管 标准：半导体光电子器件分规范（可供认证用） GB 12565-1990

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

南京市锅炉压力容器检验研究院

检测项：光谱分析 检测样品：金属材料及其制品 标准：GB/T14203-1993《钢铁及合金光电射光谱分析法通则》GB/T11170-2008《不锈钢的光电发射光谱分析方法》GB/T4336-2002《碳素钢和中低合金钢火花源原子发射光谱分析方法(常规法)》

检测项：光谱分析 检测样品： 标准：GB/T14203-1993《钢铁及合金光电射光谱分析法通则》GB/T11170-2008《不锈钢的光电发射光谱分析方法》GB/T4336-2002《碳素钢和中低合金钢火花源原子发射光谱分析方法(常规法)》

机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>

大全集团有限公司电气检测站

检测项：合金元素及杂质测定 检测样品：铝、铜金属与合金 标准：GB/T7999-2007 铝及铝合金光电（测光法）发射光谱分析方法 YS/T482-2005 铜及铜合金分析方法光电发射光谱法

机构所在地：江苏省扬中市 更多相关信息>>

北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司

检测项：漏极电流IDSon 检测样品：光耦合器 标准：1.GB/T15651.3-2003半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法 2.GB12565-1990半导体器件光电子器件分规范

检测项：漏源通态电阻RDSon 检测样品：光耦合器 标准：1.GB/T15651.3-2003半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法 2.GB12565-1990半导体器件光电子器件分规范

检测项：漏源通态电压VDSon 检测样品：光耦合器 标准：1.GB/T15651.3-2003半导体分立器件和集成电路第5-3部分：光电子器件测试方法 2.GB12565-1990半导体器件光电子器件分规范

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

必维申美商品检测（上海）有限公司

检测项：碳、硅、锰、磷、硫、铬、镍、钼、铜 检测样品：金属 标准：GB/T 11170-2008 不锈钢的光电发射光谱分析方法

检测项：铅、镉、汞、铬 检测样品：电子电器中无机非金属材料 标准：JIS H 1305:2005铝及铝合金的光电发射光谱分析方法

检测项：碳、硅、锰、磷、硫、铬、镍、钼、铜 检测样品：电子电器中无机非金属材料 标准：GB/T 11170-2008 不锈钢的光电发射光谱分析方法

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

常熟出入境检验检疫局综合技术服务中心

检测项：磷、铁、镍、铅、锡 检测样品：金属材料及制品 标准：铜及铜合金分析方法 光电发射光谱法 YS/T 482-2005

检测项：硅、铁、铜、镁、锰、锌、钛、铬、镍、钒、鋯 检测样品：金属材料及制品 标准：铝及铝合金光电直读 发射光谱分析方法 GB/T 7999-2007

检测项：硅、铁、铜、镁、锰、锌、钛、铬、镍、钒、鋯 检测样品：金属材料及制品 标准：铝及铝合金光电直读 发射光谱分析方法 GB/T 7999-2007

机构所在地：江苏省常熟市 更多相关信息>>

北京出入境检验检疫局检验检疫技术中心

检测项：Si、Cu、Fe、Mg 、Mn、Cr 、Ni、 Pb 、Zn、Ti 、Sn、V 检测样品：铝及铝合金 标准：铝及铝合金光电直读发射光谱分析方法 GB/T 7999-2007

检测项：Pb、Fe、Sn、Ni、Zn、Al、Si、Co、Cr、Mg、Mn、P、S 检测样品：金属材料及其金属制品 标准：铜及铜合金分析方法光电发射光谱法 YS/T 482-2005

机构所在地：北京市 更多相关信息>>