测量、控制和实验室用的电设备中器具耦合器和插头的检测

检测项：器具耦合器和插头 检测样品：测量、控制和实验室用的电设备 标准：测量、控制和实验室用电气设备的安全要求第1部分：通用要求 GB 4793.1-2007 IEC 61010-1：2001 6.11.3.2

检测机构：医疗器械检测研究院 更多相关信息>>

测量、控制和实验室用的电设备中器具耦合器和插头的检测

检测项：器具耦合器和插头 检测样品：测量、控制和实验室用的电设备 标准：测量、控制和实验室用电气设备的安全要求第1部分：通用要求 GB 4793.1-2007 IEC 61010-1：2001 6.11.3.2

检测机构：医药医疗器械检测中心 更多相关信息>>

卷烟中长度的检测

检测项：长度 检测样品：卷烟 标准：GB/T22838.2-2009 卷烟和滤棒物理性能的测定第2部分:长度 光电法

检测机构：国家材料分析检测中心 更多相关信息>>

半导体光电耦合器中电流传输比的检测

检测项：电流传输比 检测样品：半导体光电耦合器 标准：SJ/T2215-20155.9 半导体光电耦合器测试方法

检测机构：国家电子电器产品检测中心 更多相关信息>>

金属材料中硅、铁、铜、锰、镁、铬、镍、锌、钛、钒、铅、锡、锶的检测

检测项：硅、铁、铜、锰、镁、铬、镍、锌、钛、钒、铅、锡、锶 检测样品：金属材料 标准：铝及铝合金光电（测光法）发射光谱分析方法 GB/T 7999-2015

检测机构：国家轨道交通材料检验中心 更多相关信息>>

液晶显示器件中预热特性的检测

检测项：预热特性 检测样品：液晶显示器件 标准：液晶显示器件 第6-1部分：液晶显示器件测试方法 光电参数GB/T 18910.61-2012

检测机构：中国航天科技集团公司检测中心 更多相关信息>>

西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：反向击穿电压 检测样品：光电耦合器 标准：半导体光电耦合器测试方法 SJ 2215.1～2215.14-1982

检测项：反向击穿电压 检测样品：光电耦合器 标准：半导体光电耦合器测试方法 SJ 2215.1～2215.14-1982

检测项：饱和电压 检测样品：光电耦合器 标准：半导体光电耦合器测试方法 SJ 2215.1～2215.14-1982

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

西南计算机有限责任公司检测计量与软件测评中心

检测项：通态电压 检测样品：光耦合器 标准：半导体光耦合器测试方法 SJ 2215.2-1982

检测项：断态电流 检测样品：光耦合器 标准：半导体光耦合器测试方法 SJ 2215.2-1982

检测项：维持电流 检测样品：光耦合器 标准：半导体光耦合器测试方法 SJ 2215.2-1982

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

上海精密计量测试研究所

检测项：正向电压VF 检测样品：光电耦合器 标准：GB/T15651-1995 半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件

检测项：工作电压VZ 检测样品：光电耦合器 标准：GB/T15651-1995 半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件

检测项：微分电阻rZ 检测样品：光电耦合器 标准：GB/T15651-1995 半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

湖南航天管理局计量检测中心

检测项：正向电压VF 检测样品：光电耦合器 标准：GB/T15651-1995 半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件

检测项：工作电压VZ 检测样品：光电耦合器 标准：GB/T15651-1995 半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件

检测项：微分电阻rZ 检测样品：光电耦合器 标准：GB/T15651-1995 半导体器件分立器件和集成电路第5部分：光电子器件

机构所在地：湖南省长沙市 更多相关信息>>