官方微信
您当前的位置:首页 > 半冲测试
血糖及血糖相关参数分析仪器产品描述:通常由主机模块、电源模块、软件模块等组成。原理一般为电化学法、光反射技术、比色法等。不包含采血器具及适配试剂。 血糖及血糖相关参数分析仪器预期用途:与适配试剂配合使用,用于人体样本中待测物的定性和/或定量分析。 血糖及血糖相关参数分析仪器品名举例:血糖分析仪、血糖/尿酸/总胆固醇分析仪、血糖/总胆固醇分析仪、血糖血压测试仪、血糖与血...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2023年08月07日
检测项:半静态鱼类试验 检测样品:化学品/化工产品/生物及制剂 标准:国家环境保护总局《化学品测试方法》. 半静态鱼类试验305B中国环境科学出版社, 2004年
检测项:抗菌性能 检测样品:无机疏水性材料及其制品、硬质抗菌材料及其制品 标准:精细陶瓷(高级陶瓷,高级工业陶瓷).半导电光催化材料抗菌活性的试验方法 ISO 27447:2009
检测项:半静态鱼类试验 检测样品:化学品/化工产品/生物及制剂 标准:鱼类14天延长毒性试验,OECD 204-1984
机构所在地:广东省广州市 更多相关信息>>
检测项:输入低电平电压VIL 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输入正向阈值电压VIT+ 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输出高电平电压VOH 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:静电放电敏感度 检测样品:半导体集成电路外壳 标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1016
检测项:部分项目 检测样品:半导体集成电路外壳 标准:半导体分立器件试验方法 GJB128A-1997 方法1020
机构所在地:安徽省蚌埠市 更多相关信息>>
检测项:半挥发性有机物 检测样品:水和废水 标准:半挥发性有机物用气相色谱/质谱法测定 气相色谱/质谱法 USEPA 8270D-2007
检测项:半挥发性有机物 检测样品:土壤、固体废物 标准:半挥发性有机物用气相色谱/质谱法测定 气相色谱/质谱法 USEPA 8270D-2007
检测项:半挥发性有机物 检测样品:生活饮用水 标准:生活饮用水标准检验方法 有机物指标 GB/T 5750.8-2006
检测项:开环电压增益AVD 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输入电流II 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输出短路电流IOS 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
机构所在地:湖南省长沙市 更多相关信息>>
检测项:半挥发性有机物 检测样品:土壤 标准:气相色谱质谱联用测定半挥发性有机化合EPA8270D:2007
检测项:半挥发性有机化合物 检测样品:水和废水 标准:气相色谱质谱法测定半挥发性有机化合物.EPA 8270D:2007
检测项:粗蛋白质 检测样品:食品/营养成分 标准:谷类 豆类作物种子粗蛋白质测定法(半微量凯氏法) NY/T 3-1982
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:反向电流 检测样品:发光二极管 标准:半导体发光二极管测试方法 SJ11394-2009
检测项:光通量和光通量效率 检测样品:发光二极管 标准:半导体发光二极管测试方法 SJ11394-2009
检测项:辐射通量和辐射效率 检测样品:发光二极管 标准:半导体发光二极管测试方法 SJ11394-2009
检测项:功能测试棋盘格 检测样品:半导体集成电路MOS随机存储器 标准:GB/T 17574-1998《半导体集成电路 第 2 部分 数字集成电路》
检测项:功能测试步进 检测样品:半导体集成电路MOS随机存储器 标准:GB/T 17574-1998《半导体集成电路 第 2 部分 数字集成电路》
检测项:功能测试全0全1 检测样品:半导体集成电路MOS随机存储器 标准:GB/T 17574-1998《半导体集成电路 第 2 部分 数字集成电路》
检测项:反向电流(IR) 检测样品:发光二极管 (LED) 标准:半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法 GB/T14862-1993
检测项:正向电流(IF) 检测样品:发光二极管 (LED) 标准:半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法 GB/T14862-1993
检测项:结温 (Tj) 检测样品:发光二极管 (LED) 标准:半导体集成电路封装结到外壳热阻测试方法 GB/T14862-1993
机构所在地:广东省惠州市 更多相关信息>>
检测项:电特性 检测样品:半导体发光二极管 标准:半导体发光二极管测试方法 SJ/T 11394-2009
检测项:辐亮度 检测样品:普通照明用LED模块 标准:普通照明用LED模块测试方法 GB/T 24824-2009 普通照明用LED模块 性能要求 GB/T 24823-2009
检测项:亮度 检测样品:投光照明灯具 标准:投光照明灯具光度测试 GB/T 7002-2008