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镀层/涂层厚度简介 厚度是衡量电镀层/涂层品质的重要指标之一,它直接影响镀件的耐蚀性、装配导电性以至产品的可靠性。镀层厚度测试检测材料表面的金属和氧化物覆层的厚度测试。 镀层厚度检测方法 镀层厚度测定方法分无损法和破坏法。 镀层厚度无损检测方法包括重量法、磁性法、涡流法,射线反射法,x 射线荧光法、机械量具法等; 镀层厚度破坏检测方法包括...查看详情>>
收起百科↑ 最近更新:2017年06月29日
检测项:电源电压抑制比 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992
检测项:发射极-基极截止电流 检测样品:双极型晶体管 标准:半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997
检测项:集电极-发射极截止电流 检测样品:双极型晶体管 标准:半导体器件分立器件第8部分:场效应晶体管 GB/T 4586-1994 半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:品级 检测样品:棉花 标准:用半导体γ谱仪分析低比活度γ放射性样品的标准方法 GB/T 11713-1989
检测项:强度 检测样品:棉短绒 标准:棉纤维断裂比强度的测定平束法 GB/T 13783-1992
机构所在地:新疆维吾尔自治区乌鲁木齐市 更多相关信息>>
检测项:固体中 γ核素 检测样品:电离辐射 标准:GB/T 11713-1989 用半导体γ谱仪分析低比活度γ放射性样品的标准方法
检测项:沉降物 γ核素 检测样品:电离辐射 标准:GB/T 11713-1989 用半导体γ谱仪分析低比活度γ放射性样品的标准方法
检测项:α、β 表面污染 检测样品:电离辐射 标准:GB/T 14056.1-2008 表面污染测定 第1部分 β发射体(Eβmax>0.15MeV)和 α发射体
机构所在地:浙江省杭州市 更多相关信息>>
检测项:镭-226 检测样品:放射防护 标准:用半导体γ谱仪分析低比活度γ放射性样品的标准方法 GB/T 11713-1989
检测项:钍-232 检测样品:放射防护 标准:用半导体γ谱仪分析低比活度γ放射性样品的标准方法 GB/T 11713-1989
检测项:钾-40 检测样品:放射防护 标准:用半导体γ谱仪分析低比活度γ放射性样品的标准方法 GB/T 11713-1989
机构所在地:贵州省贵阳市 更多相关信息>>
检测项:226Ra 检测样品:建筑材料 标准:建筑材料放射性核素限量 GB 6566-2001 用半导体γ谱仪分析低比活度γ放射性样品的标准方法 GB 11713-1989
检测项:衰减比 检测样品:X射线防护材料 标准:X射线防护材料衰减性能的测定 GBZ/T 147-2002
检测项:衰减比 检测样品:医用诊断X射线辐射防护器具 标准:医用诊断X射线辐射防护器具 第一部分:材料衰减性能的测定 YY029.1-1997 idt IEC 1331-1:1994
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:放射性核素γ能谱分析检测 检测样品:含放射性物质 标准:《用半导体谱仪分析低比活度γ放射性样品的标准方法》GB11713-1989
检测项:血铅 检测样品:生物样本 标准:《血中铅的酸脱蛋白-石墨炉原子吸收光谱法》WS/T 174-1999
检测项:冲击试验 检测样品:金属材料 标准:金属材料 夏比摆锤冲击试验方法 GB/T 229-2007
检测项:渗透检测 检测样品: 标准:铸钢件渗透检测GB/T9443-2007 锻钢件液体渗透检验方法 JB/T 8466-1996 无损检测焊缝渗透检测 JB/T6062-2007 承压设备无损检测第5部分渗透检测 JB/T4730.5-2005
机构所在地:天津市 更多相关信息>>
检测项:电源电压抑制比 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 SJ/T 10805-2000
检测项:电源电压抑制比 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 GB/T 17940-2000
检测项:电源电压抑制比 检测样品:RF器件 标准:半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 GB/T 17940-2000
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:输出共模 抑制比 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:电源电压 抑制比 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T 10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:发射极-基极截止电流 检测样品:双极型晶体管 标准:GB/T 4587-1994 半导体器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
机构所在地:云南省昆明市 更多相关信息>>
检测项:固体中γ放射性核素 检测样品:水 标准:用半导体γ谱仪分析低比活度γ放射性样品的标准方法 GB/T 11713-1989
检测项:α表面污染 检测样品:水 标准:表面污染测定 第1部分: β发射体(Eβmax>0.15MeV)和 α发射体 GB/T 14056.1-2008
检测项:β表面污染 检测样品:水 标准:表面污染测定 第1部分: β发射体(Eβmax>0.15MeV)和 α发射体 GB/T 14056.1-2008