湖北省人民检察院司法鉴定中心

检测项：死亡方式 检测样品：文件检验 标准：公安部物证鉴定中心 《正常笔迹检验》 IFSC 09-01-01-2006 《伪装笔迹检验》 IFSC 09-01-02-2006 《书写条件变化笔迹检验》IFSC 09-01-03-2006

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

广东产品质量监督检验研究院/国家质量技术监督局广州电气安全检验所

检测项：部分项目 检测样品：路灯 标准：行业标准：城市道路照明设计标准CJJ45-2006

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

四川省无线电监测站

检测项：调制方式 检测样品：蓝牙设备 标准：信部无[2002]353号　　《关于调整2.4GHz频段发射功率限值及有关问题的通知》　　　　　Ver.1.2/2.0/2.0+EDR　　蓝牙射频测试规范

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

上海华中实业（集团）有限公司检测中心

检测项：形位公差:直线度 检测样品：机械零件 标准：GB/T1958-2004产品几何量技术规范（GPS)形位公差检测规定

检测项：形位公差:同轴度 检测样品：机械零件 标准：GB/T1958-2004产品几何量技术规范（GPS)形位公差检测规定

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

颛泓（上海）测试技术服务有限公司青岛分公司

检测项：异味 检测样品：纺织品安全 标准：纺织品- 某些源自于偶氮着色剂的芳香胺的检测方法 第一部分:使用或不使用萃取纺织品的方式测定可接触到的特定偶氮着色剂的方法 EN 14362-1:2012

机构所在地：山东省青岛市 更多相关信息>>

北京圣涛平试验工程技术研究院有限责任公司中心实验室

检测项：鉴定试验 检测样品：元器件破坏性物理分析 标准：1、《军用电子元器件破坏性物理分析方法》GJB 4027A-2006 2、《各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法》GJB 5914-2006 3、《半导体集成电路失效分析程序和方法》GJB3233-1998 4、《半导体分立器件失效分析方法和程序》

检测项：质量一致性试验 检测样品：元器件破坏性物理分析 标准：1、《军用电子元器件破坏性物理分析方法》GJB 4027A-2006 2、《各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法》GJB 5914-2006 3、《半导体集成电路失效分析程序和方法》GJB3233-1998 4、《半导体分立器件失效分析方法和程序》

检测项：部分项目 检测样品：元器件破坏性物理分析 标准：1、《军用电子元器件破坏性物理分析方法》GJB 4027A-2006 2、《各种质量等级军用半导体器件破坏性物理分析方法》GJB 5914-2006 3、《半导体集成电路失效分析程序和方法》GJB3233-1998 4、《半导体分立器件失效分析方法和程序》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

宜昌测试技术研究所（中国船舶重工集团公司第七一0研究所）环境可靠性及电磁兼容检测实验室

检测项：可靠性试验 检测样品：电工电子产品 标准：GB/5080.7-86设备可靠性试验 恒定失效率假设下的失效率与平均无故障时间的验证试验方案

机构所在地：湖北省宜昌市 更多相关信息>>

上海仪器仪表自控系统检验测试所

检测项：静电放电抗扰度试验 检测样品：信息技术设备；家用电器；电信设备；声音和电视广播设备；工科医设备；照明灯具和其它电子设备 标准：系统可靠性分析技术 失效模式和效应分析(FMEA)程序 GB/T 7826-1987

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

北京雷电防护装置测试中心

检测项：暂时过电压下失效的安全性试验 检测样品：通信局（站）低压配电系统用电涌保护器 标准：通信局（站）低压配电系统用电涌保护器测试方法YD/T1235.2－2002

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

广东省珠海市质量计量监督检测所

检测项：部分参数 检测样品：农业用聚乙烯吹塑棚膜 标准：GB 4455-2006农业用聚乙烯吹塑棚膜

机构所在地：广东省珠海市 更多相关信息>>