导体表层厚度检测实验

厚度

简介

镀层/涂层厚度简介厚度是衡量电镀层/涂层品质的重要指标之一，它直接影响镀件的耐蚀性、装配导电性以至产品的可靠性。镀层厚度测试检测材料表面的金属和氧化物覆层的厚度测试。镀层厚度检测方法镀层厚度测定方法分无损法和破坏法。镀层厚度无损检测方法包括重量法、磁性法、涡流法，射线反射法，x 射线荧光法、机械量具法等; 镀层厚度破坏检测方法包括...查看详情>>

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镀层/涂层厚度简介
厚度是衡量电镀层/涂层品质的重要指标之一，它直接影响镀件的耐蚀性、装配导电性以至产品的可靠性。镀层厚度测试检测材料表面的金属和氧化物覆层的厚度测试。

镀层厚度检测方法
镀层厚度测定方法分无损法和破坏法。
镀层厚度无损检测方法包括重量法、磁性法、涡流法，射线反射法，x 射线荧光法、机械量具法等;
镀层厚度破坏检测方法包括溶解法、液流法、点滴法、库仑法、金相显微镜法、轮廓仪法、干涉显微镜法等。
这些测量方法都有各自的特点和局限性，很准相互取代。但磁性法应用最广

镀层厚度相关标准
GB/T 30857-2014 蓝宝石衬底片厚度及厚度变化测试方法
GB/T 30867-2014 碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法
GB/T 30869-2014 太阳能电池用硅片厚度及总厚度变化测试方法
GB/T 4893.5-2013 家具表面漆膜理化性能试验第5部分：厚度测定法
GB/T 29507-2013 硅片平整度、厚度及总厚度变化测试自动非接触扫描法
GB/T 11374-2012 热喷涂涂层厚度的无损测量方法
GB/T 28122-2011 液晶显示器（LCD）用聚乙烯醇（PVA）膜厚度测定方法
GB/T 14847-2010 重掺杂衬底上轻掺杂硅外延层厚度的红外反射测量方法
GB/T 25451-2010 重水堆核电厂燃料元件涂层厚度测量β射线背散射法
GB/T 25188-2010 硅晶片表面超薄氧化硅层厚度的测量 X射线光电子能谱法
GB/T 25276-2010 液晶显示器（LCD）用三醋酸纤维素酯（TAC）膜厚度测定方法
GB/T 6618-2009 硅片厚度和总厚度变化测试方法
GB/T 24328.2-2009 卫生纸及其制品第2部分：厚度、层积厚度和表观密度的测定
GB/T 13761.1-2009 土工合成材料规定压力下厚度的测定第1部分：单层产品厚度的测定方法
GB/T 24218.2-2009 纺织品非织造布试验方法第2部分：厚度的测定
GB/T 23886-2009 珍珠珠层厚度测定方法光学相干层析法
GB/T 3690-2009 织物芯输送带全厚度拉伸强度、拉断伸长率和参考力伸长率试验方法
GB/T 13960.4-2009 可移式电动工具的安全第二部分：平刨和厚度刨的专用要求
GB/T 23285-2009 缩微摄影技术开窗卡增厚区厚度的测量方法
GB/T 22889-2008 皮革物理和机械试验表面涂层厚度的测定
GB/T 22638.1-2008 铝箔试验方法第1部分：厚度的测定重量法
GB/T 2951.11-2008 电缆和光缆绝缘和护套材料通用试验方法第11部分：通用试验方法厚度和外形尺寸测量机械性能试验
GB/T 13452.2-2008 色漆和清漆漆膜厚度的测定
GB/T 328.4-2007 建筑防水卷材试验方法第4部分：沥青防水卷材厚度、单位面积质量
GB/T 328.5-2007 建筑防水卷材试验方法第5部分：高分子防水卷材厚度、单位面积质量
GB/T 20724-2006 薄晶体厚度的会聚束电子衍射测定方法
GB/T 8758-2006 砷化镓外延层厚度红外干涉测量方法
GB/T 20220-2006 塑料薄膜和薄片样品平均厚度，卷平均厚度及单位质量面积的测定称量法（称量厚度）
GB/T 16921-2005 金属覆盖层覆盖层厚度测量 X射线光谱法
GB/T 20018-2005 金属与非金属覆盖层覆盖层厚度测量 β射线背散射法
GB/T 11378-2005 金属覆盖层覆盖层厚度测量轮廓仪法
GB/T 451.3-2002 纸和纸板厚度的测定
GB/T 12334-2001 金属和其他非有机覆盖层关于厚度测量的定义和一般规则
GB/T 17722-1999 金覆盖层厚度的扫描电镜测量方法
GB/T 17598-1998 土工布多层产品中单层厚度的测定
GB/T 3820-1997 纺织品和纺织制品厚度的测定
GB/T 15717-1995 真空金属镀层厚度测试方法电阻法
GB/T 13744-1992 磁性和非磁性基体上镍电镀层厚度的测量

检测项目

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检测项：导电类型检测样品：标准：GB/T 1550-1997非本征半导体材料导电类型测试方法

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检测项：接触电流和保护导体电流检测样品：电子设备用固定电容器标准：电子设备用固定电容器第9部分：分规范 2类瓷介固定电容器GB/T5968-2011

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检测项：铜屏蔽层电阻与导体电阻比检测样品：电力电缆标准：1、额定电压220kV交联聚乙烯绝缘电力电缆及其附件 GB/Z 18890.1－2002 2、电力设备预防性试验规程 DL/T 596-1996 3、电气装置安装工程电气设备交接试验标准 GB 50150-2006

检测项：铜屏蔽层导则与导体电阻比检测样品：金属无间隙氧化锌避雷器标准：1、电气装置安装工程电气设备交接试验标准GB 50150-2006 2、电力设备预防性试验规程 DL/T 596-1996 3、交流无间隙金属氧化物避雷器 GB 11032-2010

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检测项：连接导体检测样品：家用和类似用途的低压电路的连接装置标准：家用和类似用途的低压电路的连接装置.第1部分：一般要求 IEC 60998-1:2002 EN 60998-1:2004

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检测项：接触电流和保护导体电流检测样品：信息技术设备标准：信息技术设备安全第1部分：通用要求 IEC 60950-1:2005+A1:2009, EN 60950-1:2006 + A11:2009 + A1:2010 + A12:2011,

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检测项：接触电流和保护导体电流检测样品：信息技术设备标准：信息技术设备安全第1部分：通用要求 GB 4943.1:2011; IEC 60950-1:2005+A1:2009; EN 60950-1:2006+A11:2009+A1:2010+A12:2011

检测项：接触电流和保护导体电流检测样品：信息技术设备标准：信息技术设备安全第1部分：通用要求 GB 4943.1-2011; IEC 60950-1:2005+A1:2009; EN 60950-1:2006+A11:2009+A1:2010+A12:2011

检测项：电气间隙、爬电距离和绝缘穿透距离检测样品：信息技术设备标准：信息技术设备安全第1部分：通用要求 GB 4943.1:2011; IEC 60950-1:2005+A1:2009; EN 60950-1:2006+A11:2009+A1:2010+A12:2011

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检测项：γ放射性核素检测样品：环境介质放射性核素标准：用半导体γ谱仪分析低比活度γ放射性样品的标准方法. GB/T 11713-1989 土壤中放射性核素的γ能谱分析方法. GB/T 11743-1989 水中放射性核素的γ能谱分析方法. GB/T 16140-1995

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检测项：接触电流和保护导体电流(第5.1节) 检测样品：音频、视频及类似电子产品标准：音频、视频及类似电子设备安全要求 GB 8898-2011 EN60065:2002/A2: 2010 IEC 60065:2011 UL 60065-2007

检测项：接触电源和保护导体电流（第5.1节）检测样品：音频、视频及类似电子产品标准：音频、视频及类似电子设备安全要求 GB 8898-2011 EN60065:2002/A2: 2010 IEC 60065:2011 UL 60065-2007

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检测项：介电强度试验检测样品：变频器及伺服控制器标准：半导体变流器 - 总要求和线路整流转换器 - 第1-1部分:基本要求规范 IEC60146-1-1:2009

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检测项：接触电流和保护导体电流检测样品：信息技术设备标准：信息技术设备安全第1部分：通用要求 GB 4943.1-2011; IEC 60950-1:2005+A1:2009; EN 60950-1:2006+A11:2009+A1:2010+A12:2011

检测项：电气间隙、爬电距离和绝缘穿透距离检测样品：信息技术设备标准：信息技术设备安全第1部分：通用要求 GB 4943.1-2011; IEC 60950-1:2005+A1:2009; EN 60950-1:2006+A11:2009+A1:2010+A12:2011

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