上海同耀通信技术有限公司

检测项：循环寿命 检测样品：移动用户终端用电池 (安全) 标准：《移动电话用锂离子蓄电池及蓄电池组总规范》 GB/T 18287-2013

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

北京青云航空仪表有限公司理化计量中心

检测项：高温寿命 检测样品：二极管 标准：电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中兴通讯股份有限公司手机检测中心

检测项：翻盖寿命试验 检测样品：移动通讯终端 标准：《移动通信手持机可靠性技术要求和测试方法》 YD/T 1539-2006

检测项：循环寿命 检测样品：电池 标准：《蜂窝电话用锂离子电池总规范》GB/T 18287-2000

检测项：循环寿命 检测样品：镍氢 电池 标准：《蜂窝电话用金属氢化物镍电池总规范》GB/T 18288-2000

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

安徽省计量科学研究院

检测项：材料 检测样品：汽车半轴 标准：汽车半轴技术条件 QC/T 294-1999

检测项：车厢沉降率 检测样品：手扶变型运输机 标准：机动车运行安全技术条件 GB 7258-2012、 手扶变型运输机通用技术条件 JB/T 8657-2008、 低速货车可靠性考核评定方法 JB/T 7736-2011、 农林拖拉机及机具涂漆通用技术条件 JB/T 5673-1991、 农林拖拉机及机具附

机构所在地：安徽省合肥市 更多相关信息>>

路达（厦门）工业有限公司实验室

检测项：花洒头寿命 检测样品：卫生间附属配件 标准：1. 管道装置--ASME A112.18.1-2011/CSA B125.1-11

检测项：寿命 检测样品：光滑工件 标准：1. 光滑工件尺寸检验-- GB/T3177-2009

检测项：阀门寿命 检测样品：管道装置（龙头类，如：脸盆、厨房、浴缸、酒吧、洗衣机、温控龙头等；角阀） 标准：1.管道装置--ASME A112.18.1-2011/CSA B125.1-11

机构所在地：福建省厦门市 更多相关信息>>

联想移动通信科技有限公司实验室

检测项：循环寿命 检测样品：锂电池 标准：锂电池安全性要求及试验方法 YD 1268.1-2003

检测项：环境和寿命 检测样品：cdma2000高速分组数据(HRPD)接入终端(AT)设备 标准：《2GHz cdma2000数字蜂窝移动通信网设备测试方法：高速分组数据（HRPD）（第一阶段）接入终端（AT）》YD/T 1567-2007 《2GHz cdma2000数字蜂窝移动通信网设备技术要求：高速分组数据（HRPD）（第一阶段）接入终端（AT）

检测项：环境和寿命 检测样品：TD-SCDMA/GSM双模数字移动终端（含手持机、车载终端和其他终端设备） 标准：TD-SCDMAGSM(GPRS)双模双待机数字移动通信终端测试方法 YD/C 064－2007 TD-SCDMAGSM(GPRS)双模双待机数字移动通信终端技术要求 YD/C 063－2007 TD-SCDMAGSM（GPRS）双模单待机数字移动通信终端

机构所在地：福建省厦门市 更多相关信息>>

四川长虹电器股份有限公司检测校准实验室

检测项：高温寿命 检测样品：连接器 标准：电子及电气元件试验方法 GJB360B-2009 方法108

检测项：输出符号率范围 检测样品：数字电视编码器 标准：GY/T198-2003《有线数字电视广播QAM调制器技术要求和测量方法》4

机构所在地：四川省绵阳市 更多相关信息>>

宁波出入境检验检疫局检验检疫技术中心汽车零部件检测中心

检测项：加速寿命 检测样品：车门锁及门铰链 标准：SAE J 2031:2001 高压点火线

检测项：全部项目 检测样品：铅酸蓄电池 标准：SAE J 240：2002 汽车蓄电池的寿命试验

检测项：加速寿命 检测样品：车门锁及门铰链 标准：高压点火线 SAE J 2031:2001

机构所在地：浙江省宁波市 更多相关信息>>

广东坚朗五金制品股份有限公司实验中心

检测项：寿命 检测样品：建筑用闭门器 标准：建筑用闭门器JG/T268-2010

检测项：寿命 检测样品：卫生间附属配件 标准：卫生间附属配件QB/T1560-2006

检测项：使用寿命试验 检测样品：铝合金门锁 标准：铝合金门锁QB/T3891-1999

机构所在地：广东省东莞市 更多相关信息>>

华东光电集成器件研究所计量测试中心

检测项：稳态寿命 检测样品：半导体集成电路外壳 标准：微电子器件试验方法和程序 　GJB548B-2005方法1015.1

检测项：稳态寿命 检测样品：半导体集成电路外壳 标准：微电子器件试验方法和程序 　GJB548A-1996方法1005A

检测项：间歇寿命 检测样品：半导体集成电路外壳 标准：微电子器件试验方法和程序　 GJB548B-2005方法1005.1

机构所在地：安徽省蚌埠市 更多相关信息>>