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检测项：输入箝位电压 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压
检测项：开环电压增益 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压
检测项：电压调整率 检测样品：模拟集成电路 标准：GJB 597A-1996 半导体集成电路总规范 GB/T 17940-2000 半导体器件 集成电路 第3部分：模拟集成电路 GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 4377-1996 半导体集成电路电压
机构所在地：上海市 更多相关信息>>
检测项：30min 工频交流电压试验和击穿电压试验 检测样品：矿物绝缘电缆 标准：GB/T 13033.1-2007 额定电压 750V 及以下矿物绝缘电缆及终端 第 1 部分：电缆
检测项：交流电压试验 检测样品：450/750V及以下橡皮绝缘电缆-软线和软电缆 标准：GB/T 5013.1-2008 额定电压450/750V及以下橡皮绝缘电缆 第1部分：一般要求 GB/T 5013.2-2008 额定电压450/750V及以下橡皮绝缘电缆 第2部分：试验方法 GB/T 5013.4-2008 额定电压450/750
机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>
检测项：操作电压 检测样品：高压电器 标准：GB/T16927.1-2011 高电压试验技术 第一部分：一般定义及试验要求 IEC 60060-1：2010 高电压试验技术 第一部分：一般定义及试验要求
检测项：工频/直流电压 检测样品：交直流高压套管 标准：GB/T 4109-2008 交流电压高于1000V 的绝缘套管 IEC 60137：2008 交流电压高于1000V 的绝缘套管 GB/T 22674-2008 直流系统用套管 IEC 62199：2004 直流系统用套管 GB/T16927.
检测项：电压波动和闪烁 检测样品：电子产品(EMC) 标准：GB 17625.2-2007 IEC 61000-3-3:2008电磁兼容 限值 对每相额定电流≤16 A且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁的限制
检测项：直流端口电压暂降、短时中断抗扰性 检测样品：GSM移动终端及辅助设备(EMC) 标准：GB/T 17626.29-2006 IEC 61000-4-29:2000电磁兼容 试验和测量技术 直流端口的电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验
检测项：电压暂降、短时中断和电压变化抗扰度 检测样品：CDMA移动终端及辅助设备(EMC) 标准：GB 19484.1-2004《800MHz CDMA数字蜂窝移动通信系统电磁兼容性要求和测量方法第1部分：移动台及其辅助设备》
机构所在地：重庆市 更多相关信息>>
检测项：交流电压试验 检测样品：电线、电缆 标准：《电线电缆电性能试验方法 第8部分：交流电压试验》 GB/T3048.8-2007 《电缆、绞线和导体测试方法 第三部分：电气试验》 AS/NZS 1660.3：1998
检测项：裸电线尺寸测量 检测样品：架空绝缘电缆 标准：《额定电压1kV及以下架空绝缘电缆》 GB/T 12527-2008 《额定电压10kV架空绝缘电缆》 GB/T14049-2008 《额定电压0.6/1(1.2)kV及以下交联聚乙烯绝缘架空集束电缆 第一部分：铝导体绝缘架空电缆》 AS/NZ
检测项：裸电线拉力试验 检测样品：架空绝缘电缆 标准：《额定电压1kV及以下架空绝缘电缆》 GB/T 12527-2008 《额定电压10kV架空绝缘电缆》 GB/T14049-2008 《额定电压0.6/1(1.2)kV及以下交联聚乙烯绝缘架空集束电缆 第一部分：铝导体绝缘架空电缆》 AS/NZ
机构所在地：四川省德阳市 更多相关信息>>
检测项：5.1电化学系统，额定电压，截止电压和开路电压 检测样品：一次电池 标准：一次电池 – 第三部分: 手表电池 IEC 60086-3：2011 （ed3.0） EN60086:2011
检测项：9.2.2 过充电电压（模组及电池系统） 检测样品：车用电池 标准：含碱性或非酸性电解液的工业用二次电芯，电池组的安全要求 IEC62619(21A/499/NP)
检测项：安全要求 检测样品：整体式LED灯 标准：额定电压大于50V的自镇流LED灯安全要求 IEC 62560:2011
机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项：滞后电压ΔVT 检测样品：模拟/混合集成电路 标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199
检测项：输出高电平电压VOH 检测样品：模拟/混合集成电路 标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199
检测项：输出低电平电压VOL 检测样品：模拟/混合集成电路 标准：GB/T 6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 17940-2000半导体器件集成电路 第3部分 模拟集成电路 GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理 GB/T 14028-199
机构所在地：河南省洛阳市 更多相关信息>>
检测项：电压下降及中断 检测样品：电气照明和类似设备 标准：一般照明用设备电磁兼容抗扰度要求 GB/T 18595-2001 中5.8条 电磁兼容 试验和测量技术 电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验 GB/T 17626.11-2008
检测项：电压波动 检测样品：LED模块 标准：一般照明用设备电磁兼容抗扰度要求 GB/T 18595-2001 中5.9条 电磁兼容 限值 对每相额定电流≤16A且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁的限制 GB/T 17625.2-2007
检测项：电源电压要求 检测样品：自镇流LED灯 标准：普通照明用LED模块测试方法 GB/T 24824-2009
机构所在地：浙江省绍兴市 更多相关信息>>
检测项：电压波动和闪烁 检测样品：信息技术 设备 标准：电磁兼容 限值 对每相额定电流≤16A且无条件接入的设备在公用低压供电系统中产生的电压变化、电压波动和闪烁的限制 GB17625.2-2007 IEC61000-3-3:2008 EN61000-3-3:2008
检测项：谐波电流限值 检测样品：信息技术 设备 标准：电磁兼容 试验和测量技术 电压暂降、短时中断和电压变化的抗扰度试验 GB/T 17626.11-2008 IEC61000-4-11:2004 EN61000-4-11:2004
检测项：电压暂降、短时中断的抗扰度 检测样品：信息技术 设备 标准：信息技术设备抗扰度限值和测量方法 GB/T 17618-1998 CISPR 24:2010
检测项：电压波动 电压闪烁 检测样品：低压电气和电子设备 标准：GB 17625.2-2007电磁兼容限值 对额定电流不大于16A的设备在低压供电系统中产生的电压波动和闪烁的限制
检测项：电压波动 电压闪烁 检测样品：低压电气和电子设备 标准：IEC61000-3-2:2009电磁兼容限值 谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A）
检测项：电压波动 电压闪烁 检测样品：低压电气和电子设备 标准：AS/NZS 61000.3.2:2007电磁兼容限值 谐波电流发射限值（设备每相输入电流≤16A）
