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检测项:选通延迟时间 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T14030-1992
检测项:启动延迟 检测样品:混合集成电路 标准:混合集成电路DC/DC变换器 测试方法 SJ20646-1997
机构所在地:重庆市
检测项:输出脉冲延迟(超前)时间 检测样品:屏蔽室 标准:GB/T 12190-2006 电磁屏蔽室屏蔽效能的测量方法
检测项:输出脉冲延迟(超前)时间 检测样品:脉冲信号 发生器 标准:GB 9318-1988 《 脉冲信号发生器测试方法》
机构所在地:四川省绵阳市
检测项:门极控制延迟时间、开通时间 检测样品:晶闸管 标准:半导体器件 第6部分 晶闸管 GB/T 15291-1994 反向阻断三极晶闸管测试方法 JB/T 7626-1994
机构所在地:陕西省西安市
检测项:传输延迟 检测样品:场馆厅堂 标准:JGJ/T131-2000体育馆声学设计及测量规程
检测项:延迟偏离 检测样品:场馆厅堂 标准:JGJ/T131-2000体育馆声学设计及测量规程
检测项:传输延迟 检测样品:场馆厅堂 标准:JGJ/T131-2000体育馆声学设计及测量规程
机构所在地:广东省广州市