广州环宇标准及检测技术有限公司

检测项：机械/物理性能 检测样品：玩具和儿童用品 标准：玩具的测试方法-第一部分:机械性能和化学测试 GSO 578/1995 条款 3.1 软体填充玩具的眼睛附着物牢固度测试 3.2 跌落强度测试 3.3 摇铃测试 3.4 供承载儿童重量的静止或可移动的大型玩具测试 3.5 弹射测试 3.6 仿制保护装置测试

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

中国工程物理研究院计量测试中心

检测项：X射线检查 检测样品：无键合引线轴向引线玻璃外壳和玻璃钝化封装二极管 标准：GJB 4027A-2006 《军用电子元器件破坏性物理分析方法 》

检测项：密封 检测样品：无键合引线轴向引线玻璃外壳和玻璃钝化封装二极管 标准：GJB 4027A-2006 《军用电子元器件破坏性物理分析方法 》

检测项：内部气体成份分析 检测样品：无键合引线轴向引线玻璃外壳和玻璃钝化封装二极管 标准：GJB 4027A-2006 《军用电子元器件破坏性物理分析方法 》

机构所在地：四川省绵阳市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：电特性 a)绝缘电阻 b)引线电阻 检测样品：半导体集成电路外壳 标准：1、GJB 1420A-1999 半导体集成电路外壳 总规范 2、SJ 20129-1992 金属镀覆层厚度测量方法 3、GB/T 16526-1996 封装引线间电容和引线负载电容测试方法

检测项：电特性 a)绝缘电阻 b)引线电阻 检测样品：半导体集成电路外壳 标准：1、GJB 1420A-1999 半导体集成电路外壳 总规范 2、SJ 20129-1992 金属镀覆层厚度测量方法 3、GB/T 16526-1996 封装引线间电容和引线负载电容测试方

检测项：外形尺寸 检测样品：半导体分立器件外壳 标准：1、GJB 923A-2004 半导体分立器件外壳通用规范 2、SJ 20129-1992 金属镀覆层厚度测量方法 3、GB/T 16526-1996 封装引线间电容和引线负载电容测试方法

机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>

中国电工仪器仪表质量监督检验中心

检测项：输出和输出信号及测试引线 检测样品： 标准：

检测项：浪涌抗扰度 检测样品：电子式电能表 标准：（17）GB/T17626.5-2008《电磁兼容 试验和测量技术 浪涌(冲击)抗扰度试验》

检测项：浪涌抗扰度 检测样品：电子式电能表 标准：（17）GB/T17626.5-2008《电磁兼容 试验和测量技术 浪涌(冲击)抗扰度试验》

机构所在地：黑龙江省哈尔滨市 更多相关信息>>

农业部烟花爆竹质量监督检验测试中心

检测项：引线引燃时间 检测样品：烟花爆竹 标准：烟花爆竹 安全质量 GB 10631-2013

检测项：撞击感度 检测样品：烟花爆竹 标准：炸药测试 撞击感度 GJB772A601.1-1997

检测项：摩擦感度 检测样品：烟花爆竹 标准：炸药测试 摩擦感度 GJB772A602.1-1997

机构所在地：江西省萍乡市 更多相关信息>>

英利能源（中国）有限公司英利光伏实验室

检测项：（引线端）拉力实验 检测样品： 标准：

机构所在地：河北省保定市 更多相关信息>>

广东产品质量监督检验研究院认证与测量工程部

检测项：力 检测样品：插头插销牢固程度试验机 标准：CEST/CAL/GF064-2009插头插销牢固程度试验机检测规范

检测项：长度 检测样品：插头插销牢固程度试验机 标准：CEST/CAL/GF064-2009插头插销牢固程度试验机检测规范

检测项：力 检测样品：插头插销牢固程度试验机 标准：灯座连接安全性试验装置检测规范

机构所在地：广东省广州市 更多相关信息>>

伍尔特电子（深圳）有限公司检测中心

检测项：可焊性测试 检测样品：电子元器件 标准：《元器件引线，端子，焊片，接线柱和导线的可焊性测试》 EIA/IPC/JEDEC J-STD-002D:2013

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

福建省电子产品监督检验所（福建省软件评测中心）

检测项：引线强度 检测样品：固定电感器 标准：电子设备用固定电感器总规范 SJ/T 2885-2003

检测项：成行度 检测样品：打印机 标准：串行击打式点阵打印机通用规范 GB/T 9314-2011

检测项：成列度 检测样品：打印机 标准：串行击打式点阵打印机通用规范 GB/T 9314-2011

机构所在地：福建省福州市 更多相关信息>>

上海精密计量测试研究所

检测项：非透明玻璃封装、双管脚、非空腔、轴向引线二极管外观目检 检测样品：半导体分立器件 标准：GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法

检测项：非透明玻璃封装、双管脚、非空腔、轴向引线二极管外观目检 检测样品：半导体分立器件 标准：GJB128A-1997 半导体分立器件试验方法

检测项：归一化场地衰减 检测样品：电波暗室 标准：GJB2926-1997 电磁兼容性测试实验室认可要求 附录A 电波暗室归一化场地衰减的测试 附录B 电波暗室场均匀性的检验 JJF(电子)30805-2007 电波暗室校准规范 GB/T17626.3-2006 电磁兼容试验和测量技术射频电磁场辐射抗扰度

机构所在地：上海市 更多相关信息>>