光缆及通信电缆试验方法中截止波长的检测

检测项：截止波长 检测样品：光缆及通信电缆试验方法 标准：GB/T 15972.44-2008《光纤试验方法规范 第44部分：传输特性和光学特性的测量方法和试验程序 截止波长》

检测机构：国家电线电缆质量监督检验中心 更多相关信息>>

食品中氨基酸态氮的检测

检测项：氨基酸态氮 检测样品：食品 标准：GB5009.235-2016 食品安全国家标准 食品中氨基酸态氮的测定

检测机构：国家食品质量监督检验中心 更多相关信息>>

湖北航天技术研究院计量测试技术研究所

检测项：功能 检测样品：模拟开关 标准：半导体集成电路模拟开关测试方法的基本原理 GB/T 14028-1992 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000；

检测项：发射极-基极截止电流IEBO 检测样品：晶体管 标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 半导体分立器件和集成电路第7部分：场效应晶体管 GB/T 4587-1994

检测项：集电极-发射极截止电流ICEO 检测样品：晶体管 标准：半导体分立器件试验方法 GJB 128A-1997 半导体分立器件和集成电路第7部分：场效应晶体管 GB/T 4587-1994

机构所在地：湖北省孝感市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第二十四研究所质检中心

检测项：截止态隔离度 检测样品：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器 标准：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理　GB/T14114-1993

检测项：截止态漏极漏电流 检测样品：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器 标准：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理　GB/T14114-1993

检测项：截止态源极漏电流 检测样品：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器 标准：半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器测试方法的基本原理　GB/T14114-1993

机构所在地：重庆市 更多相关信息>>

上海华岭集成电路技术股份有限公司检测中心

检测项：截止态和导通态电流（对模拟信号开关电路） 检测样品：CMOS集成电路 标准：集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理　 SJ20961-2006

检测项：截止态和导通态电流（对模拟信号开关电路） 检测样品：RF器件 标准：集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理　 SJ20961-2006

检测项：截止态漏极漏电流 检测样品：集成电路A/D和D/A转换器 标准：集成电路A/D和D/A转换器测试方法的基本原理　 SJ 20961-2006

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国航空综合技术研究所航空综合环境航空科技重点实验室

检测项：截止态漏级漏电流 ID（off） 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T 14030-1992 《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》

检测项：截止态源级漏电流 IS（off） 检测样品：模拟集成电路 标准：GB/T 14030-1992 《半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理》

检测项：集电极--基极截止电流ICBO 检测样品：晶体三极管 标准：GB/T4587-1994 《半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

贵州航天计量测试技术研究所

检测项：截止态漏极漏电流ID 检测样品：V/F、F/V转换器 标准：《半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器》 GB/T 14114-1993

检测项：截止态源极漏电流IS 检测样品：V/F、F/V转换器 标准：《半导体集成电路电压/频率和频率/电压转换器》 GB/T 14114-1993

检测项：交叉极化隔离度 检测样品：开阔试验场 标准：《无线电骚扰和抗扰度测量设备和测量方法规范 第1-4部分：无线电骚扰和抗扰度测量设备 辅助设备 辐射骚扰》GB/T 6113.104-2008

机构所在地：贵州省贵阳市 更多相关信息>>

北京振兴计量测试研究所

检测项：截止态漏极漏电流ID(off) 检测样品：脉宽调制器 标准：半导体集成电路开关电源脉宽调制器测试方法 QJ2660-1994

检测项：截止态源极漏电流IS(off) 检测样品：脉宽调制器 标准：半导体集成电路开关电源脉宽调制器测试方法 QJ2660-1994

检测项：隔离度 检测样品：振荡器 标准：微波元器件性能测试方法 GJB 2650-1996

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

西南技术物理研究所检测校准中心实验室

检测项：截止态漏极漏电流 检测样品：电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996

检测项：截止态源极漏电流 检测样品：电压比较器 标准：半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996

检测项：反向截止电流 检测样品：光电耦合器 标准：半导体光电耦合器测试方法 SJ 2215.1～2215.14-1982

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

北京尊冠科技有限公司

检测项：截止态漏极漏电流 ID（Off） 检测样品：半导体集成电路MOS随机存储器 标准：GB/T 17574－1998《半导体集成电路 第 2 部分 数字集成电路》

检测项：截止态源极漏电流 IS（off） 检测样品：半导体集成电路MOS随机存储器 标准：GB/T 17574－1998《半导体集成电路 第 2 部分 数字集成电路》

检测项：集电极－基极截止电流（反向电流）（ICBO） 检测样品：双极型晶 体管 标准：GB/T 4587－94 《半导体器件分立器件和集成电路 第7部分：双极型晶体管》

机构所在地：北京市 更多相关信息>>