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检测项:增益 检测样品: 标准:GJB 1707A-2005 相位噪声测试方法
检测项:开环电压增益AVD 检测样品:三端稳压电源(电压调整器) 标准:GB/T4377-1996 半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
检测项:开环电压增益AVD 检测样品:半导体集成电路采样/保持放大器 标准:GB/T14115-1993 半导体集成电路采样/保持放大器测试方法的基本原理
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:天线增益 检测样品: 标准:
检测项:天线增益 检测样品:移动通信天线 标准:移动通信天线通用技术规范GB/T 9410-2008
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:1分贝增益压缩点的功率增益GP(1dB) 检测样品:闸流晶体管 标准:GB/T 15291-1994 半导体器件 第6部分:晶闸管
检测项:1分贝增益压缩点的功率增益GP(1dB) 检测样品:场效应晶体管 标准:1、GB/T 4586-1994 半导体器件第8部分:场效应晶体管 2、GB/T 20516-2006 半导体器件 分立器件 第4部分:微波器件
检测项:功率增益GP 检测样品:微电路模块 标准:1、SJ 20668-1998 微电路模块总规范 2、SJ 20645-1997 微波电路放大器测试方法
机构所在地:河北省石家庄市 更多相关信息>>
检测项:增益和时隙增益调节范围 检测样品:TD-SCDMA 直放站 标准:2GHz TD-SCDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法 YD/T 1711-2007
检测项:增益和时隙增益调节步长和误差 检测样品:TD-SCDMA 直放站 标准:2GHz TD-SCDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法 YD/T 1711-2007
检测项:增益 检测样品:移动通信系统基站天线 标准:移动通信系统基站天线技术条件 YD/T 1059-2004
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:增益和时隙增益调节范围 检测样品:WCDMA数字蜂窝通信系统直放机 标准:YD/T 1554-2007 2GHz WCDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法
检测项:增益和时隙增益调节步长及误差 检测样品:WCDMA数字蜂窝通信系统直放机 标准:YD/T 1554-2007 2GHz WCDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法
检测项:系统增益及增益线性 检测样品:CDMA95/CDMA2000直放站 标准:信息产业部 (信部无[2002]65号) 《关于800MHz频段CDMA系统基站和直放机杂散发射限值及与900MHz频段GSM系统邻频共用设台要求的通知》 信息产业部无线电管理局文件 (信无函[2001]32号) 《关于发布800MHz
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:最大增益和最小增益 检测样品:移动通信双工器 标准:《移动通信双工器电性能要求及测量方法》 GB/T 15491—2008 《无线双工移动通信系统中心台双工器通用规范》 GJB 3011-1997
检测项:平均增益 检测样品:移动通信双工器 标准:《移动通信双工器电性能要求及测量方法》 GB/T 15491—2008 《无线双工移动通信系统中心台双工器通用规范》 GJB 3011-1997
检测项:增益平坦度 检测样品:移动通信双工器 标准:《移动通信双工器电性能要求及测量方法》 GB/T 15491—2008 《无线双工移动通信系统中心台双工器通用规范》 GJB 3011-1997
检测项:调频频率范围 检测样品:调频广播接收机 标准:声音广播接收机基本参数 GB/T 9374-1988 调频广播接收机测量方法 GB/T6163-2011
检测项:噪限灵敏度 检测样品:调频广播接收机 标准:声音广播接收机基本参数 GB/T 9374-1988 调频广播接收机测量方法 GB/T6163-2011
检测项:实用灵敏度 检测样品:调频广播接收机 标准:声音广播接收机基本参数 GB/T 9374-1988 调频广播接收机测量方法 GB/T6163-2011
机构所在地:河南省郑州市 更多相关信息>>
检测项:3.1 接收器/串行总线协议/签署 3.2 接收器/串行总线协议/获取 3.3 接收器/串行总线协议/鉴定 3.4 接收器/串行总线协议/设置 3.5 接收器/串行总线协议/激活 3.6 接收器/串行总线协议/持续 3.7 接收器/串行总线协 检测样品:通信设备(射频性能) 标准:CCC-TS-019-车联网服务二进制协议测试规范V1.1
检测项:部分 项目 检测样品:通信设备 (空中性能) 标准:移动通信天线通用技术规范 GB/T 9410-2008
检测项:全部项目 检测样品:信息技术设备 标准:电声学 助听器 第2部分:具有自动增益控制电路的助听器 GB/T 25102.2-2010
检测项:开环电压增益 检测样品:运算放大器 标准:半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996
检测项:开环电压增益 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>