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检测项:全项目 检测样品:声频放大器 标准:声系统设备 第3部分:声频放大器测量方法 GB/T 12060.3-2011; 声频功率放大器通用技术条件 SJ/T 10406-1993
检测项:全项目 检测样品:家庭影院用环绕声放大器 标准:家庭影院用环绕声放大器通用规范 SJ/T 11217-2000
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:调频收音机基本参数 检测样品:声频功率 放大器 标准:声系统设备 第3部分:声频放大器测量方法 GB/T 12060.3-2011 广播收音机、广播电视接收机、磁带录音机、声频功率放大器(扩音机)的环境要求和试验方法 GB/T 9384-2011 声频功率放大器通用技术要求 SJ/T 10406-1993
检测项:一般要求和检验方法 检测样品:声频功率 放大器 标准:声系统设备 第3部分:声频放大器测量方法 GB/T 12060.3-2011 广播收音机、广播电视接收机、磁带录音机、声频功率放大器(扩音机)的环境要求和试验方法 GB/T 9384-2011 声频功率放大器通用技术要求 SJ/T 10406-1993
检测项:辐射危险 检测样品:干线放大器 标准:电视和声音信号的电缆分配系统设备与部件 第8部分:干线放大器通用规范 GB/T 11318.8-1996 电视和声音信号的电缆分配系统设备与部件 第1部分:通用规范
机构所在地:浙江省杭州市 更多相关信息>>
检测项:噪声系数 检测样品:放大器 标准:GJB 2650-1996 微波元器件性能测试方法
检测项:最大输出功率 检测样品:噪声系数测试装置 标准:GJB 2650-1996 微波元器件性能测试方法
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:低电平输出电流 检测样品:运算放大器 标准:半导体集成电路运算(电压) 放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项:输入失调电压 检测样品:运算放大器 标准:半导体集成电路运算(电压) 放大器测试方法的基本原理 SJ/T 10738-1996
检测项:输入失调电流 检测样品:运算放大器 标准:半导体集成电路电压比较器 测试方法的基本原理 GB/T 6798-1996
机构所在地:湖北省武汉市 更多相关信息>>
检测项:输出短路电流 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:SJ/T10738-96 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:电源电流 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:SJ/T10738-96 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:功能测试 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:SJ/T10738-96 半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
机构所在地:江苏省连云港市 更多相关信息>>
检测项:线路输出阻抗 检测样品:声频功率放大器 标准:声频功率放大器通用技术条件SJ/T10406-1993
检测项:线路负载阻抗 检测样品:声频功率放大器 标准:声频功率放大器通用技术条件SJ/T10406-1993
检测项:部分参数 检测样品:声频功率放大器 标准:声频功率放大器通用技术条件SJ/T10406-1993
机构所在地:山东省济南市 更多相关信息>>
检测项:释放电压 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:半导体集成电路 运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988
检测项:吸合时间 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:半导体集成电路 运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988
检测项:释放时间 检测样品:半导体集成电路运算放大器 标准:半导体集成电路 运算放大器空白详细规范 GB 9425-1988
检测项:差分输入线性放大器的输入失调电压和单端输入放大器的偏置电压 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 GB/T 17940-2000
检测项:差分输入线性放大器的输入失调电压和单端输入放大器的偏置电压 检测样品:RF器件 标准:半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 GB/T 17940-2000
检测项:差分放大器的输出电压范围(仅直流测试) 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体器件 集成电路 第3部分:模拟集成电路 GB/T 17940-2000
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:集电极-基极击穿电压 检测样品:半导体集成运算放大器 标准:SJ/T 10738-1996 半导体集成电路 运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:输入失调电压 检测样品:半导体集成运算放大器 标准:SJ/T 10738-1996 半导体集成电路 运算(电压)放大器测试方法的基本原理
机构所在地:云南省昆明市 更多相关信息>>
检测项:输出高电平电压 检测样品:运算放大器 标准:SJ/T10738-1996半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:输出低电平电压 检测样品:运算放大器 标准:SJ/T10738-1996半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
检测项:高电平输出电流 检测样品:运算放大器 标准:SJ/T10738-1996半导体集成电路运算(电压)放大器测试方法的基本原理
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>