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检测项:开环电压增益 检测样品:半导体集成电路电压比较器 标准:GB/T6798-1996 半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理
检测项:开环电压增益 检测样品:晶体三极管 标准:GB/T4587-1994 半导体分立器件和集成电路 第7部分:双极型晶体管
检测项:开环电压增益 检测样品:半导体集成电路电压比较器 标准:GB/T6798-1996 《半导体集成电路电压比较器测试方法的基本原理》
机构所在地:江苏省连云港市
检测项:输入高电平电压VIH 检测样品:数字集成电路 标准:SJ/T10741-2000 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》
检测项:输入低电平电压VIL 检测样品:数字集成电路 标准:SJ/T10741-2000 《半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理》
机构所在地:北京市
检测项:增益 检测样品:声频功率放大器 标准:声频功率放大器通用技术条件 SJ/T10406-1993
检测项:多通道放大器中通道间的增益差和相位差 检测样品:声频功率放大器 标准:声频功率放大器通用技术条件 SJ/T10406-1993
检测项:总则 检测样品:信息技术设备 标准:信息技术设备的安全 GB4943.1-2011 IEC 60950-1:2005,MOD
机构所在地:四川省成都市
检测项:低噪声放大器增益 检测样品:微波通信设备 标准:数字微波接力通信设备测量方法 GB/T12640-1990
检测项:自动增益控制特性 检测样品:中短波通信设备 标准:短波单边带接收机电性能测量方法 GB/T6934-1995
检测项:射频增益控制 检测样品:中短波通信设备 标准:短波单边带接收机电性能测量方法 GB/T6934-1995
机构所在地:河北省石家庄市