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检测项:输出高阻态时低电平电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:复位电流 检测样品:时基电路 标准:半导体集成电路时基电路测试方法的基本原理 GB/T 14030-1992
机构所在地:四川省成都市
机构所在地:广东省深圳市
机构所在地:广东省东莞市
机构所在地:广东省广州市
机构所在地:上海市
检测项:冲击电流测量残压 检测样品:低压配电系统电涌保护器(SPD) 标准:GB 18802.1-2011 《低压电涌保护器(SPD) 第1部分:低压配电系统的电涌保护器 性能要求和试验方法》
机构所在地:广西壮族自治区南宁市