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检测项:输入高电平电流IIH 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输入低电平电流IIL 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输入高电平电压VIH 检测样品:半导体集成电路CMOS电路 标准:SJ/T10741-2000 半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理
机构所在地:上海市 更多相关信息>>
检测项:最大允许 输入电平 检测样品:GSM移动通信直放机 标准:《900MHz/1800MHz TDMA数字蜂窝移动通信网直放站技术要求和测试方法》YD/T 1337- 2005
检测项:上行内环功率控制 检测样品:WCDMA数字蜂窝移动台 标准:《2GHz WCDMA 数字蜂窝移动通信网终端设备技术要求(第三阶段)》 YD/T 1547-2009 《2GHz WCDMA 数字蜂窝移动通信网终端设备检测方法(第三阶段)第1部分:基本功能、业务和性能测试
检测项:上行开环功率控制 检测样品:WCDMA数字蜂窝移动台 标准:《2GHz WCDMA 数字蜂窝移动通信网终端设备技术要求(第三阶段)》 YD/T 1547-2009 《2GHz WCDMA 数字蜂窝移动通信网终端设备检测方法(第三阶段)第1部分:基本功能、业务和性能测试
机构所在地:陕西省西安市 更多相关信息>>
检测项:额定输入电平 检测样品:铁路列车无线通信系统中继器 标准:铁路无线列调通信系统入网技术检验规程(试行) 条款:五(四)
检测项:静噪门限电平 检测样品:铁路列车无线通信系统中继器 标准:TB/T3052-2002 列车无线调度通信系统制式及主要技术条件 运基通信【2000】208号文
检测项:额定输出电平 检测样品:铁路列车无线通信系统中继器 标准:铁路无线列调通信系统入网技术检验规程(试行) 条款:五(四)
机构所在地:北京市 更多相关信息>>
检测项:输入高电平电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输入低电平电流 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
检测项:输入高电平电压 检测样品:CMOS电路 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理 SJ/T 10741-2000
机构所在地:四川省成都市 更多相关信息>>
检测项:输入高电平电压 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3022
检测项:输入高电平电流 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3007.1
检测项:输入低电平电流 检测样品:电子元器件 标准:微电子器件试验方法标准 MIL-STD-883G-2006 方法3010.1
机构所在地:江苏省无锡市 更多相关信息>>
检测项:输入输出电平差 检测样品:数字电影放映系统 标准:《数字电影中档放映系统技术要求和测量方法》GY/T 256-2012
检测项:线路输入最高电平 检测样品:调音台 标准:《广播调音台电性能运行技术指标测量方法》GY 76-1989
检测项:参考电平 检测样品:数字电影放映系统 标准:《数字电影流动放映系统技术要求和测量方法》GY/T 251-2011
检测项:输入低电平电压VIL 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输入高电平电流IIH 检测样品:半导体集成 电路 (CMOS) 标准:半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T10741-2000
检测项:输入高电平电流IIH 检测样品:半导体集成 电路 (TTL) 标准:半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996
检测项:蓝牙最大输入电平RCV/CA/06/C 检测样品:蓝牙设备 标准:蓝牙射频测试规范 RF.TS/4.0.2
检测项:蓝牙EDR最大输入电平RCV/CA/10/C 检测样品:蓝牙设备 标准:蓝牙低功耗射频测试规范 RF-PHY.TS/4.0.1
检测项:RCV-LE/CA/06/C (最大输入信号电平) 检测样品:蓝牙设备 标准:蓝牙低功耗射频测试规范 RF-PHY.TS/4.0.1
机构所在地:广东省深圳市 更多相关信息>>
检测项:输入高电平电流 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输入低电平电流 检测样品:TTL电路 标准:SJ/T10735-1996半导体集成电路TTL电路测试方法的基本原理
检测项:输入高电平电流 检测样品:电压调整器 标准:GB/T 4377-1996半导体集成电路电压调整器测试方法的基本原理
机构所在地:江苏省南京市 更多相关信息>>
检测项:输入高电平电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项:输入低电平电流 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
检测项:输入高电平 电压 检测样品:CMOS集成电路 标准:半导体集成电路CMOS电路 测试方法的基本原理 SJ/T10741-2000
机构所在地:重庆市 更多相关信息>>