中国电子科技集团公司第十研究所天奥校准/检测实验室

检测项：密封(氦质谱检漏) 检测样品：电子元器件 标准：电子及电气元件试验方法GJB360B-2009方法108

检测项：密封(氦质谱检漏) 检测样品：电子元器件 标准：微电路试验方法和程序GJB548B-2005 方法1014.2

检测项：密封(氦质谱检漏) 检测样品：电工电子产品、军用电子设备 标准：半导体分立器件试验方法GJB128A-1997 方法1071

机构所在地：四川省成都市 更多相关信息>>

中国船舶重工集团第七0九研究所微电子测试校准实验室

检测项：密封 检测样品：钽电容器 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

检测项：密封 检测样品：钽电容器 标准：微电子器件试验方法和程序GJB548B-2005

机构所在地：湖北省武汉市 更多相关信息>>

国网河南省电力公司电力科学研究院

检测项：六氟化硫检漏 检测样品：六氟化硫断路器 标准：电力设备预防性试验规程 DL/T596-1996 高压开关设备六氟化硫气体密封试验方法 GB11023-1989

检测项：六氟化硫检漏 检测样品：六氟化硫封闭式组合电器 标准：电力设备预防性试验规程 DL/T596-1996 高压开关设备六氟化硫气体密封试验方法 GB11023-1989

检测项：六氟化硫检漏 检测样品：六氟化硫断路器 标准：电力设备预防性试验规程 DL/T 596-1996 高压开关设备六氟化硫气体密封试验导则 GB 11023-1989

机构所在地：河南省郑州市 更多相关信息>>

北京青云航空仪表有限公司理化计量中心

检测项：细检漏 检测样品：半导体集成 电路 (TTL) 标准：半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

检测项：粗检漏 检测样品：半导体集成 电路 (TTL) 标准：半导体集成电路TTL 电路测试方法的基本原理SJ/T10735-1996

检测项：细检漏 检测样品：电位器 标准：非线绕预调电位器总规范GJB918-1990 线绕预调电位器总规范 GJB917－1990

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

上海航天精密机械研究所试验与检测中心

检测项：泄漏检测 检测样品：金属材料、非金属材料、复合材料及其构件 标准：氦质谱正压检漏方法 QJ 3089-1999

机构所在地：上海市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十四研究所检测/试验中心

检测项：粗检漏 检测样品：闸流晶体管 标准：SJ/Z9014.3-1987半导体器件 分立器件和集成电路 第６部分：闸流晶体管

检测项：细检漏 检测样品：电阻器 标准：GJB360A-1996电子及电气元件测试方法

检测项：粗检漏 检测样品：电阻器 标准：GJB360A-1996电子及电气元件测试方法

机构所在地：江苏省南京市 更多相关信息>>

深圳电气科学研究所（深圳电气科学研究所中心实验室/深圳电气产品质量检测中心）

检测项：部分项目 检测样品：继电器（时间继电器、有或无继电器、量度继电器、输电线路保护装置及设备保护装置等） 标准：JB6314-1992 矿用隔爆型检漏继电器

检测项：部分项目 检测样品：继电器（时间继电器、有或无继电器、量度继电器、输电线路保护装置及设备保护装置等） 标准：矿用隔爆型检漏继电器 JB6314-1992

机构所在地：广东省深圳市 更多相关信息>>

中国电子科技集团公司第十三研究所检测中心

检测项：密封检漏 检测样品：电子元器件及设备 物理性能试验 标准：1、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 2、GJB 548A-1996 微电子器件试验方法和程序 3、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 4、SJ 20527-1995 微波组件通用规范 5、SJ 20527

检测项：密封检漏 检测样品：电子元器件及设备 物理性能试验 标准：1、GJB 128A-1997 半导体分立器件试验方法 2、GJB 548A-1996 微电子器件试验方法和程序 3、GJB 548B-2005 微电子器件试验方法和程序 4

机构所在地：河北省石家庄市 更多相关信息>>

北京诚聚成电力技术检测有限公司

检测项：测量绕组连同套管的直流电阻 检测样品：电力变压器 标准：电气装置安装工程电气设备交接试验标准 GB 50150-2006 第七章

检测项：测量绕组连同套管的绝缘电阻、吸收比或极化指数 检测样品：电力变压器 标准：电气装置安装工程电气设备交接试验标准 GB 50150-2006 第七章

检测项：测量绝缘电阻 检测样品：六氟化硫断路器 标准：电气装置安装工程电气设备交接试验标准 GB 50150-2006 第十三章 六氟化硫电气设备中绝缘气体湿度测量方法DL/T 506 - 2007

机构所在地：北京市 更多相关信息>>

中国科学院半导体研究所元器件检测中心

检测项：密封性试验 检测样品：电工电子产品、军用设备、电子及电气元件、 半导体分立器件、微电子器件 标准：电工电子产品环境试验试验Q： 密封 GB/T2423.23-1995

机构所在地：北京市 更多相关信息>>