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检测项:输入电流 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法 的基本原理
检测项:输入高电平电流 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法 的基本原理
检测项:输入低电平电流 检测样品:半导体集成电路TTL电路 标准:SJ/T10735-1996 半导体集成电路TTL电路测试方法 的基本原理
机构所在地:湖北省宜昌市
机构所在地:天津市
机构所在地:上海市
机构所在地:广东省广州市
检测项:部分项目 检测样品:所有电机及电子产品 标准:谐波电流发射限值(设备输入电流每相不大于16A) EN 61000-3-2: 2000 EN 61000-3-2: 2006 + A1 + A2
检测项:部分项目 检测样品:所有电器及电子产品 标准:谐波电流发射值(设备输入电流每相不大于 16A) IEC61000-3-2:2000 IEC 61000-3-2:2005+A1+A2
检测项:部分项目 检测样品:所有电机及电子产品 标准:谐波电流发射限值(设备输入电流每相不大于16A) EN 61000-3-2: 2000 EN 61000-3-2: 2006 + A1 + A2
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机构所在地:北京市